Предполагаемое время доставки
Ship To Detecting...
Delivery: -
Описание
Линейные источники света под углом серии LiO/LiT (одиночные/двойные) обеспечивают наклонное освещение для усиления текстурной детализации поверхности и обнаружения дефектов. Идеально подходят для таких применений, как инспекция печатных плат и анализ поверхности, обеспечивая высокую контрастность и точность. Настраиваемые конструкции позволяют бесшовно адаптироваться к разнообразным требованиям промышленной визуализации.
Особенности
■ Обнаружение морщин и неровностей на поверхности листовых объектов
■ Обнаружение царапин на прозрачных пленках
■ Обнаружение царапин на стеклянных панелях
■ Обнаружение повреждений на металлических поверхностях и т. д.
Применения
■ Уникальный оптический дизайн использует линзу Френеля для достижения наклонного освещения, что позволяет гибко реагировать на требования к различным направлениям освещения.
■ Морщины и неровности на объектах, рассеивающих свет, таких как бумага и нетканые материалы, легко обнаруживаются в направлении транспортировки производственной линии.
■ Патентованная платформа термического управления использует естественное охлаждение для легкого достижения уровня освещенности 3 миллиона ЛЮКС, эффективно увеличивая срок службы источника света.
■ Конструкция может быть удвоена, длина может достигать 4800 мм, при этом отсутствуют зазоры между световыми пятнами.
Схема области двойного наклонного облучения
Однородность / Относительная освещенность
Примечание: 1. Инфракрасные продукты являются кастомизированными, с опциональными длинами волн: 850 нм, 940 нм, 1050 нм, 1350 нм, 1450 нм;
Примечание: 2.Данные приведены только для справки, пожалуйста, обращайтесь к фактическим данным.
Основные параметры
Цвет излучения, класс защиты IP, метод охлаждения, длина излучающей поверхности и т. д. настраиваемы
Оплата и безопасность
Ваша платежная информация обрабатывается безопасно. Мы не храним данные кредитной карты и не имеем доступа к данным вашей кредитной карты.