Камеры линейного сканирования SWIR

Линейные камеры SWIR разработаны для высокоскоростного непрерывного контроля в диапазоне 900–1700 нм . Доступны в конфигурациях от 512 пикселей до 2K с минимальным размером пикселя 10 мкм, они обеспечивают высокую чувствительность и детализированное SWIR-изображение для сложных задач линейного контроля.

Поддержка интерфейсов GigE, Camera Link и CoaXPress делает эти камеры идеальными для контроля рулонных материалов, сортировки, контроля полупроводников, анализа материалов, контроля пищевых продуктов и высокоскоростных промышленных производственных линий.