Обзор линейных источников света

Линейные источники света представляют собой гибкие решения для освещения в машинном зрении, разработанные для широкого спектра промышленных инспекционных приложений. Contrastech предлагает Стандартные линейные источники света, Линейные источники света высокой яркости и Квадратные линейные источники света с независимым управлением для обеспечения оптимальной производительности освещения при различных требованиях к инспекции.

Благодаря высокой интенсивности и равномерному освещению, Линейные источники света идеально подходят для инспекции маркировки IC, инспекции компонентов на стеклянной подложке, инспекции поверхности пластин, инспекции шага пайки и разъемов, инспекции BGA/QFP и обнаружения дефектов на поверхности колпачков. Квадратные линейные источники света с независимым управлением особенно подходят для OCR IC-чипов, позиционирования точек MARK и инспекции плоских материалов большой площади, обеспечивая гибкую настройку освещения для сложных систем машинного зрения.