Q1: Для чего используется серия TLVS-H1.1?
A: Серия TLVS-H1.1 представляет собой телецентрические объективы для видимого и коротковолнового ИК-диапазонов, разработанные для контроля полупроводников, получения изображений интегральных схем, анализа пропускания кремния и мультиспектральных приложений машинного зрения.
Q2: Что такое коррекция сдвига фокуса в этом объективе?
A: Коррекция сдвига фокуса позволяет объективу поддерживать постоянную фокусировку в диапазоне длин волн 400–1200 нм, устраняя необходимость повторной фокусировки при переключении между видимым и коротковолновым ИК-изображением.
Q3: Может ли этот объектив снимать внутренние структуры через кремний?
A: Да. При длине волны пропускания около 1100 нм объектив может получать изображения внутренних цепей и структур ИС через кремниевые пластины.
Q4: Какие варианты увеличения доступны?
A: Серия поддерживает увеличения 0,7X, 1,0X, 2,0X и 4,0X, подходящие для различных требований к контролю и измерениям.
Q5: В чем преимущество телецентрической конструкции?
A: Телецентрическая оптика обеспечивает низкий уровень искажений, стабильное увеличение и высокую точность измерений, что крайне важно для высокоточного контроля.
Q6: Поддерживает ли объектив как коаксиальную, так и некоаксиальную установки?
A: Да, серия TLVS-H1.1 доступна в коаксиальной и некоаксиальной версиях, в зависимости от условий применения.
Q7: В каких отраслях промышленности обычно используется этот объектив?
A: Он широко используется в производстве полупроводников, инспекции ИС, производстве электроники, прецизионной метрологии и передовых системах машинного зрения.
Q8: Каков диапазон длин волн этого объектива?
A: Объектив работает в широком спектральном диапазоне 400–1200 нм, охватывая как видимое, так и коротковолновое ИК-изображение.
Предполагаемое время доставки
Ship To Detecting...
Delivery: -
Описание
Описание продукта
Телецентрическая объектив видимого и КИК диапазона с коррекцией смещения фокуса для прецизионной визуализации
Серия TLVS-H1.1 представляет собой высокопроизводительный телецентрический объектив для видимого и КИК диапазонов, разработанный для продвинутых приложений машинного зрения, требующих визуализации в широком диапазоне длин волн от 400 до 1200 нм. Уникальная технология коррекции смещения фокуса обеспечивает стабильную фокусировку изображения от видимого света до коротковолнового инфракрасного диапазона (КИК), устраняя необходимость повторной фокусировки при мультиспектральном контроле.
Эта серия позволяет пользователям получать изображения в видимом и проходящем КИК диапазонах с высокой стабильностью, обеспечивая обнаружение внутренних структур и дефектов, невидимых при стандартной визуализации в видимом свете. Она особенно эффективна для контроля кремниевых пластин и визуализации внутренних цепей ИС на длине волны пропускания ~1100 нм.
Доступная в увеличениях 0.7X, 1.0X, 2.0X и 4.0X, серия TLVS-H1.1 поддерживает как коаксиальную, так и некоаксиальную конфигурации, обеспечивая гибкую интеграцию в различные промышленные системы контроля.
Ключевые особенности
✔ Широкополосная визуализация в видимом и КИК диапазонах (400–1200 нм)
Обеспечивает бесшовную визуализацию от видимого света до спектра КИК.
✔ Технология коррекции смещения фокуса
Поддерживает резкую фокусировку на нескольких длинах волн без регулировки.
✔ Телецентрическая оптическая конструкция
Обеспечивает визуализацию без искажений и высокую точность измерений.
✔ Варианты многократного увеличения (0.7X–4.0X)
Гибкие конфигурации для различных приложений машинного зрения.
✔ Визуализация пропускания кремния ИС (~1100 нм)
Обеспечивает контроль внутренних цепей через кремниевые пластины.
✔ Доступны коаксиальные / некоаксиальные версии
Подходит для систем отражающего и пропускного контроля.
Идеальные области применения
- Контроль полупроводниковых пластин
- Визуализация внутренних цепей ИС
- Контроль пропускания кремния
- Производство электроники
- Обнаружение дефектов в различных спектрах
- Прецизионная метрология
- Продвинутые системы машинного зрения
- Мультиспектральная промышленная визуализация
Характеристики
Телецентрический объектив C-разъема для видимого и КИК диапазонов 400-1200 нм
| Модель | Ув. | РР | Круг изображения | Коаксиальный |
|---|---|---|---|---|
| TLVS-0.7XD-H1.1 | 0.7X | 110 мм | Φ20.5 мм | Да |
| TLVS-0.7X-H1.1 | 0.7X | 110 мм | Φ20.5 мм | Нет |
| TLVS-1.0XD-H1.1 | 1.0X | 110 мм | Φ24 мм | Да |
| TLVS-1.0X-H1.1 | 1.0X | 110 мм | Φ24 мм | Нет |
| TLVS-2.0XD-H1.1 | 2.0X | 110 мм | Φ24 мм | Да |
| TLVS-2.0X-H1.1 | 2.0X | 110 мм | Φ24 мм | Нет |
| TLVS-4.0XD-H1.1 | 4.0X | 110 мм | Φ20.5 мм | Да |
| TLVS-4.0X-H1.1 | 4.0X | 110 мм | Φ20.5 мм | Нет |
Загрузка КИК объектива
Оценить стоимость доставки
Оплата и безопасность
Ваша платежная информация обрабатывается безопасно. Мы не храним данные кредитной карты и не имеем доступа к данным вашей кредитной карты.