100MP Large Format Machine Vision Lenses for High-Resolution Inspection - Contrastech
100MP Large Format Machine Vision Lenses for High-Resolution Inspection - Contrastech
100MP Large Format Machine Vision Lenses for High-Resolution Inspection - Contrastech
Наведите курсор на изображение, чтобы увеличить его Нажмите на изображение, чтобы увеличить
100MP Large Format Machine Vision Lenses for High-Resolution Inspection - Contrastech100MP Large Format Machine Vision Lenses for High-Resolution Inspection - Contrastech100MP Large Format Machine Vision Lenses for High-Resolution Inspection - Contrastech

100MP Объективы для машинного зрения большого формата для инспекции высокого разрешения

ContrastechАртикул: VT-LEMF3528MP100
Нет отзывов
Спецификация: 35mm EFL
Цена:
$565.00

Стоимость доставки рассчитывается при оформлении заказа

⚠️ Таможенные пошлины и налоги страны назначения не включены

💰 Покупайте больше, экономьте на доставке. Для получения скидки на доставку свяжитесь с нами по адресу market@contrastech.com.

  • Товары в наличии: Готовы к быстрой отгрузке.
  • Товары по предзаказу: Обычно требуют около 7 дней на подготовку. Мы оперативно уведомим вас после оформления заказа.
  • Требуется счёт-проформа: Пожалуйста, создайте черновик заказа для получения.

Предполагаемое время доставки

Ship To Detecting...

Delivery: -

Описание

Описание продукта

Серия объективов большого формата 100 МП разработана для промышленных камер сверхвысокого разрешения, поддерживая требовательные приложения AOI, инспекции полупроводников, прецизионной метрологии и машинного зрения большой площади.

С фокусными расстояниями от 35 мм до 80 мм серия поддерживает большие форматы сенсоров и обеспечивает изображение высокого разрешения с низкой дисторсией. Доступны с байонетами F и M72, эти объективы оптимизированы для систем изображения 100 МП, требующих точного и стабильного качества изображения.

Ключевые особенности

  • Изображение высокого разрешения 100 МП
  • Поддержка сенсоров большого формата
  • Фокусные расстояния 35–80 мм
  • Низкая оптическая дисторсия
  • Байонеты F / M72

Применение

  • Инспекция полупроводников
  • Печатные платы & Инспекция AOI
  • Прецизионная метрология
  • Машинное зрение большой площади
  • Инспекция промышленного оборудования высокого разрешения

Характеристики

Модель EFL F/# Формат WD Байонет
VT-LEMF3528MP100 35mm F2.8 Ø46mm — F
VT-LEN72-4056MP100 40mm — Ø67mm 144–1043 M72
VLEN72-4040MP100 40mm F4.0 Ø58mm 200–∞ M72
VT-LEMF5040MP100 50mm F4.0 Ø56mm 150–∞ F
VT-LEN72-6040MP100 60mm F4.0 Ø60mm 300–550 M72
VT-LEMF8040MP100 80mm F4.0 Ø56mm 235–∞ F

Загрузка объективов с байонетом F/T


В1: Для каких камер разработаны эти объективы?
О: Они разработаны для 100-мегапиксельных промышленных камер и крупноформатных датчиков изображения.

В2: Какие фокусные расстояния доступны?
О: Серия включает фокусные расстояния 35 мм, 40 мм, 50 мм, 60 мм и 80 мм.

В3: Какие области применения подходят для этих объективов?
О: Они идеально подходят для автоматической оптической инспекции (AOI), инспекции полупроводников, высокоточной метрологии и машинного зрения на больших площадях.

В4: Поддерживают ли эти объективы получение изображений с низким уровнем искажений?
О: Да. Серия характеризуется низким оптическим искажением для детального осмотра и измерения.

В5: Какие крепления объективов доступны?
О: Доступны модели с креплениями F и M72.

В6: Зачем использовать 100-мегапиксельный крупноформатный объектив?
О: Это помогает полностью использовать датчики высокого разрешения, обеспечивая мелкие детали и постоянное качество изображения на больших областях изображения.

Оценить стоимость доставки

Оплата и безопасность

PayPal

Ваша платежная информация обрабатывается безопасно. Мы не храним данные кредитной карты и не имеем доступа к данным вашей кредитной карты.

Вам также может понравиться

Недавно просмотренные