950-1800nm 1.1" C-Mount SWIR Коаксиальные телецентрические линзы IMX990

ContrastechАртикул: TLSW-0.5XD-H1.1
Нет отзывов

Длина волны: 950-1800nm 1.1" C-Mount
Фокусное расстояние: 0.5x F6.3 Коаксиальный
Цена:
Цена продажи$6,400.00

Стоимость доставки рассчитывается при оформлении заказа

⚠️ Таможенные пошлины и налоги страны назначения не включены

💰 Покупайте больше, экономьте на доставке. Для получения скидки на доставку свяжитесь с нами по адресу market@contrastech.com.

  • Товары в наличии: Готовы к быстрой отгрузке.
  • Товары по предзаказу: Обычно требуют около 7 дней на подготовку. Мы оперативно уведомим вас после оформления заказа.
  • Требуется счёт-проформа: Пожалуйста, создайте черновик заказа для получения.

Предполагаемое время доставки

Ship To Detecting...

Delivery: -

Описание

Описание продукта

Телецентрическая SWIR-объектив высокой производительности для прецизионной промышленной инспекции

Телецентрические SWIR-объективы серии TLSW разработаны для систем визуализации в коротковолновом инфракрасном диапазоне (SWIR), поддерживающих спектральный диапазон 950–1800 нм. Оптимизированные для сенсоров Sony IMX990 и 1.1" InGaAs, эти объективы обеспечивают исключительную производительность для обнаружения дефектов и различий в материалах, невидимых в видимом спектре.

Благодаря телецентрической оптической конструкции объектив обеспечивает точное изображение без искажений для задач прецизионных измерений и инспекции. Доступны варианты с увеличением 1.0X и 2.0X; объектив оснащен регулируемой диафрагмой, позволяющей пользователям оптимизировать глубину резкости и контрастность изображения в соответствии с требованиями к инспекции.

Серия TLSW доступна в коаксиальных и некоаксиальных конфигурациях, что делает ее адаптируемой к широкому спектру промышленных систем машинного зрения.

Ключевые особенности

✔ Диапазон пропускания SWIR 950–1800 нм
Оптимизировано для визуализации в коротковолновом инфракрасном диапазоне за пределами видимого света.

✔ Совместимость с сенсорами Sony IMX990 / 1.1" InGaAs
Разработано для систем машинного зрения SWIR с высокой чувствительностью.

✔ Телецентрическая оптическая конструкция
Обеспечивает измерительную визуализацию высокой точности без искажений.

✔ Варианты увеличения 1.0X / 2.0X
Гибкие конфигурации для различных требований к инспекции.

✔ Регулируемая диафрагма (отдельные модели)
Позволяет оптимизировать глубину резкости и управлять контрастностью изображения.

✔ Доступны коаксиальные / некоаксиальные версии
Поддерживает инспекцию отражающих и не отражающих поверхностей.

Идеальные области применения

  • Инспекция полупроводниковых пластин
  • Анализ кремниевых материалов
  • Инспекция электронных компонентов
  • Обнаружение дефектов за пределами видимого спектра
  • Прецизионная метрология
  • Продвинутые системы SWIR-визуализации
  • Исследования & Научная визуализация
  • Инспекция в промышленной автоматизации

Характеристики

Модель
Коаксиальный
Ув.
WD
(мм)

F/#

Объект
Числ. аперт.
ГР
(мм)
TLSW-0.5XD-H1.1
Да
0.5
116.4
6.3
0.040
2.02
TLSW-0.7XD-H1.1
Да
0.7
116.0
6.4
0.055
1.05
TLSW-1.0XD-H1.1
Да
1.0
110.0
7.0
0.071
0.56
TLSW-1.0X-H1.1
Нет
1.0
110.0
7.0
0.071
0.56
TLSW-2.0XD-H1.1
Да
2.0
110.2
11.5
0.087
0.23
TLSW-2.0X-H1.1
Нет
2.0
110.2
11.5
0.087
0.23
TLSW-4.0XD-H1.1
Да
4.0
 110.3
20.0
0.100
0.10

Загрузка SWIR-объектива

Datasheet Download

В1: Для чего используется телецентрический объектив TLSW SWIR?
О: Он предназначен для машинного зрения в SWIR-диапазоне, контроля полупроводников, анализа материалов и точной метрологии, особенно там, где дефекты не видны в видимом спектре.

В2: Какой диапазон длин волн поддерживает этот объектив?
О: Объектив работает в ближнем инфракрасном диапазоне (SWIR) 950–1800 нм, что позволяет использовать его в передовых приложениях инфракрасной визуализации.

В3: С какими датчиками изображения совместим этот объектив?
О: Он оптимизирован для датчиков Sony IMX990 и 1,1" InGaAs SWIR, обычно используемых в промышленных системах инфракрасной визуализации.

В4: В чем преимущество телецентрического SWIR-объектива?
О: Он обеспечивает получение изображений без искажений, стабильное увеличение и высокую точность измерений, что крайне важно для точного контроля.

В5: Какие варианты увеличения доступны?
О: Объектив доступен с увеличением 1,0X и 2,0X, что подходит для различных требований к контролю и измерениям.

В6: Может ли объектив регулировать глубину резкости?
О: Да, выбранные модели имеют регулируемую диафрагму, что позволяет пользователям оптимизировать глубину резкости и контрастность изображения.

В7: В чем разница между коаксиальной и некоаксиальной версиями?
О: Коаксиальная версия идеально подходит для отражающих поверхностей, таких как металл или полированные пластины, в то время как некоаксиальная версия подходит для общей SWIR-инспекции.

В8: В каких отраслях промышленности обычно используется этот объектив?
О: Он широко используется в производстве полупроводников, электронной инспекции, материаловедении и передовых исследовательских системах визуализации.

Оценить стоимость доставки

Оплата и безопасность

PayPal

Ваша платежная информация обрабатывается безопасно. Мы не храним данные кредитной карты и не имеем доступа к данным вашей кредитной карты.

Вам также может понравиться

Недавно просмотренные