Телецентричний об'єктив TLVS-H1.1 видимого–SWIR діапазону | Корекція зміщення фокусу 400–1200nm

ContrastechSKU: TLVS-0.7XD-H1.1
No reviews

Довжина хвилі: 400-1200nm 1.1" C-Mount
Технічні характеристики: 0.7x Коаксіальний
Price:
Sale price$6,800.00

Shipping calculated at checkout

⚠️ Destination Duties & Taxes Not Included

💰 Buy more, save on shipping. Contact market@contrastech.com for a discounted shipping rate.

  • In-stock items: Ready for quick shipment.
  • Pre-order items: Typically require around 7 days for preparation. We will notify you promptly after your order.
  • Proforma lnvoice Needed: Please create a draft order to obtain.

Estimated Delivery Time

Ship To Detecting...

Delivery: -

Description

Опис продукту

Телецентрична лінза видимого та короткохвильового інфрачервоного діапазонів (SWIR) з корекцією зміни фокусу для точного зображення

Серія TLVS-H1.1 — це високопродуктивна телецентрична лінза для видимого та короткохвильового інфрачервоного діапазонів (SWIR), розроблена для передових застосувань машинного зору, що вимагають зображення в широкому діапазоні довжин хвиль від 400 до 1200 нм. Унікальна технологія корекції зміни фокусу забезпечує стабільний фокус зображення від видимого світла до короткохвильового інфрачервоного діапазону (SWIR), усуваючи необхідність повторного фокусування під час багатоспектрального інспектування.

Ця серія дозволяє користувачам отримувати зображення в видимому та пропущеному SWIR-діапазонах з високою стабільністю, що забезпечує виявлення внутрішніх структур та дефектів, невидимих за стандартного зображення в видимому світлі. Вона особливо ефективна для інспектування кремнієвих пластин та зображення внутрішніх ланцюгів ІС на довжині хвилі пропускання ~1100 нм.

Доступна в збільшеннях 0.7X, 1.0X, 2.0X та 4.0X, серія TLVS-H1.1 підтримує як коаксіальні, так і некоаксіальні конфігурації, забезпечуючи гнучку інтеграцію в різні промислові системи інспектування.

Основні особливості

✔ Широкодіапазонне зображення в видимому та SWIR-діапазонах (400–1200 нм)
Підтримує безшовне зображення від видимого світла до SWIR-спектру.

✔ Технологія корекції зміни фокусу
Підтримує чіткий фокус на кількох довжинах хвиль без коригування.

✔ Телецентричний оптичний дизайн
Забезпечує зображення без спотворень та високу точність вимірювань.

✔ Опції різного збільшення (0.7X–4.0X)
Гнучкі конфігурації для різних застосувань машинного зору.

✔ Зображення пропускання через кремній ІС (~1100 нм)
Забезпечує інспектування внутрішніх ланцюгів через кремнієві пластини.

✔ Доступні коаксіальні / некоаксіальні версії
Підходить для систем інспектування відбитого та пропущеного світла.

Ідеальні застосування

  • Інспектування напівпровідникових пластин
  • Зображення внутрішніх ланцюгів ІС
  • Інспектування пропускання через кремній
  • Виробництво електроніки
  • Виявлення дефектів у різних спектрах
  • Точна метрологія
  • Передові системи машинного зору
  • Багатоспектральне промислове зображення

Технічні характеристики

Телецентрична лінза C-кріплення для видимого та SWIR-діапазонів (400-1200 нм)

Модель Збільшення WD Круг зображення Коаксіальна
TLVS-0.7XD-H1.1 0.7X 110 мм Φ20.5 мм Так
TLVS-0.7X-H1.1 0.7X 110 мм Φ20.5 мм Ні
TLVS-1.0XD-H1.1 1.0X 110 мм Φ24 мм Так
TLVS-1.0X-H1.1 1.0X 110 мм Φ24 мм Ні
TLVS-2.0XD-H1.1 2.0X 110 мм Φ24 мм Так
TLVS-2.0X-H1.1 2.0X 110 мм Φ24 мм Ні
TLVS-4.0XD-H1.1 4.0X 110 мм Φ20.5 мм Так
TLVS-4.0X-H1.1 4.0X 110 мм Φ20.5 мм Ні

Завантаження лінзи SWIR

Datasheet Download

Q1: What is the TLVS-H1.1 series used for?
A: The TLVS-H1.1 is a Visible–SWIR telecentric lens series designed for semiconductor inspection, IC imaging, silicon transmission analysis, and multi-spectral machine vision applications.

Q2: What is focus shift correction in this lens?
A: Focus shift correction allows the lens to maintain consistent focus across 400–1200nm wavelengths, eliminating the need to refocus when switching between visible and SWIR imaging.

Q3: Can this lens capture internal structures through silicon?
A: Yes. At around 1100nm transmission wavelength, the lens can image internal IC circuits and structures through silicon wafers.

Q4: What magnification options are available?
A: The series supports 0.7X, 1.0X, 2.0X, and 4.0X magnifications, suitable for different inspection and measurement requirements.

Q5: What is the advantage of a telecentric design?
A: Telecentric optics ensure low distortion, stable magnification, and high measurement accuracy, which is essential for precision inspection.

Q6: Does the lens support both coaxial and non-coaxial setups?
A: Yes, the TLVS-H1.1 series is available in coaxial and non-coaxial versions, depending on the application environment.

Q7: What industries commonly use this lens?
A: It is widely used in semiconductor manufacturing, IC inspection, electronics production, precision metrology, and advanced machine vision systems.

Q8: What is the wavelength range of this lens?
A: The lens operates across a wide 400–1200nm spectral range, covering both visible and SWIR imaging.

Estimate shipping

Payment & Security

PayPal

Your payment information is processed securely. We do not store credit card details nor have access to your credit card information.

You may also like

Recently viewed