Огляд камер SWIR

Камери SWIR доступні у варіантах лінійного сканування та матричного сканування для промислового інспектування, наукового зображення та застосувань машинного зору. Вони підтримують стандартний 400-1700nm діапазон SWIR, з опційними 1000-1900nm та 1200-2200nm спектральними діапазонами для спеціалізованого зображення. Роздільна здатність лінійного сканування становить від 512 пікселів до 2K, тоді як моделі матричного сканування доступні від 640×512 до 2560×2048.

Оснащені передовими сенсорами InGaAs, зокрема IMX990, IMX991, IMX992, та IMX993, камери SWIR забезпечують високу чутливість та виняткову якість зображення. Обирайте моделі з охолодженням TEC, зовнішнім охолодженням або безвентиляторним пилозахистом для задоволення різних вимог застосувань, зокрема інспектування напівпровідників, сортування матеріалів, багатоспектрального зображення та промислової автоматизації.