Телецентричні лінзи 950-1800nm 1.1" C-Монтаж SWIR коаксіальні IMX990

ContrastechSKU: TLSW-0.5XD-H1.1
No reviews

Довжина хвилі: 950-1800nm 1.1" C-Mount
Фокусна відстань: 0.5x F6.3 Коаксіальний
Price:
Sale price$6,400.00

Shipping calculated at checkout

⚠️ Destination Duties & Taxes Not Included

💰 Buy more, save on shipping. Contact market@contrastech.com for a discounted shipping rate.

  • In-stock items: Ready for quick shipment.
  • Pre-order items: Typically require around 7 days for preparation. We will notify you promptly after your order.
  • Proforma lnvoice Needed: Please create a draft order to obtain.

Estimated Delivery Time

Ship To Detecting...

Delivery: -

Description

Опис продукту

Високопродуктивний SWIR телецентричний об'єктив для прецизійної промислової інспекції

Телецентричні об'єктиви серії TLSW для SWIR розроблені для систем зображення в короткохвильовому інфрачервоному (SWIR) діапазоні, що підтримують спектральний діапазон 950–1800 нм. Оптимізовані для сенсорів Sony IMX990 та InGaAs розміром 1,1", ці об'єктиви забезпечують виняткову продуктивність для виявлення дефектів та відмінностей у матеріалах, які невидимі в видимому спектрі.

Завдяки телецентричному оптичному дизайну об'єктив забезпечує точне зображення без спотворень для застосувань у прецизійних вимірюваннях та інспекції. Доступні у збільшеннях 1,0X та 2,0X, об'єктив має регульований діафрагмовий механізм, що дозволяє користувачам оптимізувати глибину різкості та контрастність зображення відповідно до вимог інспекції.

Серія TLSW доступна у коаксіальних та некоаксіальних конфігураціях, що робить її адаптованою до широкого спектру промислових систем машинного зору.

Основні особливості

✔ Діапазон пропускання SWIR 950–1800 нм
Оптимізовано для зображення в короткохвильовому інфрачервоному діапазоні за межами видимого світла.

✔ Сумісність із сенсорами Sony IMX990 / InGaAs 1,1"
Розроблено для систем машинного зору SWIR з високою чутливістю.

✔ Телецентричний оптичний дизайн
Забезпечує зображення для вимірювань високої точності без спотворень.

✔ Варіанти збільшення 1,0X / 2,0X
Гнучкі конфігурації для різних вимог інспекції.

✔ Регульована діафрагма (обрані моделі)
Забезпечує оптимізацію глибини різкості та контроль контрастності зображення.

✔ Доступні коаксіальні / некоаксіальні версії
Підтримка інспекції відбивних та невідбивних поверхонь.

Ідеальні застосування

  • Інспекція напівпровідникових пластин
  • Аналіз кремнієвих матеріалів
  • Інспекція електронних компонентів
  • Виявлення дефектів за межами видимого спектру
  • Прецизійна метрологія
  • Розвинені системи зображення SWIR
  • Дослідження & Наукове зображення
  • Інспекція в промисловій автоматизації

Технічні характеристики

Модель
Коаксіальний
Збільшення
WD
(мм)

F/#

Об'єкт
Числ. аперт.
ГРР
(мм)
TLSW-0.5XD-H1.1
Так
0.5
116.4
6.3
0.040
2.02
TLSW-0.7XD-H1.1
Так
0.7
116.0
6.4
0.055
1.05
TLSW-1.0XD-H1.1
Так
1.0
110.0
7.0
0.071
0.56
TLSW-1.0X-H1.1
Ні
1.0
110.0
7.0
0.071
0.56
TLSW-2.0XD-H1.1
Так
2.0
110.2
11.5
0.087
0.23
TLSW-2.0X-H1.1
Ні
2.0
110.2
11.5
0.087
0.23
TLSW-4.0XD-H1.1
Так
4.0
 110.3
20.0
0.100
0.10

Завантаження SWIR об'єктива

Datasheet Download

Q1: What is the TLSW SWIR telecentric lens used for?
A: It is designed for SWIR machine vision, semiconductor inspection, material analysis, and precision metrology, especially where defects are not visible in the visible spectrum.

Q2: What wavelength range does this lens support?
A: The lens operates in the 950–1800nm shortwave infrared (SWIR) range, enabling advanced infrared imaging applications.

Q3: Which image sensors is this lens compatible with?
A: It is optimized for Sony IMX990 and 1.1" InGaAs SWIR sensors, commonly used in industrial infrared imaging systems.

Q4: What is the advantage of a telecentric SWIR lens?
A: It provides distortion-free imaging, stable magnification, and high measurement accuracy, which is critical for precision inspection.

Q5: What magnification options are available?
A: The lens is available in 1.0X and 2.0X magnifications, suitable for different inspection and measurement requirements.

Q6: Can the lens adjust depth of field?
A: Yes, selected models feature an adjustable iris design, allowing users to optimize depth of field and image contrast.

Q7: What is the difference between coaxial and non-coaxial versions?
A: The coaxial version is ideal for reflective surfaces like metal or polished wafers, while the non-coaxial version is suitable for general SWIR inspection.

Q8: What industries commonly use this lens?
A: It is widely used in semiconductor manufacturing, electronics inspection, material science, and advanced research imaging systems.

Estimate shipping

Payment & Security

PayPal

Your payment information is processed securely. We do not store credit card details nor have access to your credit card information.

You may also like

Recently viewed