Описание
Линзы линейного сканирования 16K3.5μ V-Mount оптимизированы для приложений со сверхвысоким разрешением, обеспечивая точное изображение 16K с размером пикселя 3,5μ. Разработанные для отраслей, требующих скрупулезной детализации, таких как инспекция полупроводников, FPD и печатных плат, эти линзы обеспечивают выдающуюся четкость изображения с минимальными искажениями. Конструкция V-Mount обеспечивает надежную и простую установку, что делает ее совместимой с высокопроизводительными камерами линейного сканирования. Идеально подходящие для сред, где скорость и точность имеют первостепенное значение, линзы линейного сканирования 16K3.5μ V-Mount обеспечивают исключительные оптические характеристики, обеспечивая эффективное и надежное обнаружение дефектов для современных систем инспекции.
Основные характеристики
■ Проверка FPD/PCB
■ Инспекция текстильной промышленности
■ Инспекция железнодорожных путей, а также более автоматизированный оптический контроль и обнаружение микродефектов
Спецификация
| Модель |
английский как иностранный
|
Маг.
|
Диафрагма
|
ФБЛ
|
|---|---|---|---|---|
|
ВТЛ-9040-0.1X
|
90мм
|
0.1x
|
Ф4.0
|
82,7 мм
|
|
ВТЛ-9540-0.05X
|
95 мм |
0,05x
|
Ф4.0
|
81,2 мм
|
|
ВТЛ-16К-0.26Х
|
114мм
|
0,26x
|
Ф4.2
|
128,3 мм
|
|
ВТЛ-16К-0.33Х
|
116мм
|
0,33x
|
Ф4.2
|
137мм
|
|
ВТЛ-16К-0,42Х
|
116мм
|
0,42x
|
Ф3.8
|
144,5 мм
|
|
ВТЛ-16К-0,5Х
|
116мм
|
0,5x
|
Ф3.8
|
153,3 мм
|
|
ВТЛ-16К-0,67Х
|
116мм
|
0,67x
|
Ф3.8
|
170,2 мм
|
|
ВТЛ-16К-0,7Х
|
116мм
|
0,7х
|
Ф3.8
|
174,4 мм
|
|
ВТЛ-16К-0,75Х
|
100мм
|
0,75x
|
Ф3.8
|
180,5 мм
|
|
ВТЛ-16К-1.0Х
|
116мм
|
1.0x
|
Ф3.5
|
209,47 мм
|
Оценить стоимость доставки
Оплата и безопасность
Ваша платежная информация обрабатывается безопасно. Мы не храним данные кредитной карты и не имеем доступа к данным вашей кредитной карты.