Когда ошибки недопустимы
Телецентрические объективы являются оптической основой современных систем инспекции полупроводников, прецизионной метрологии и систем машинного зрения на базе ИИ.
В средах передового производства точность изображения определяет надежность результатов инспекции. Если оптическая система вносит искажения, вариации увеличения или артефакты отражения, даже самые продвинутые алгоритмы не могут компенсировать ошибки на источнике.
Именно здесь телецентрические объективы становятся критически важными.
Телецентрическая оптика устраняет перспективные ошибки, стабилизирует увеличение и обеспечивает изображение без искажений, создавая надежную визуальную основу, необходимую для прецизионной инспекции, метрологии и данных для обучения ИИ.
Почему традиционные промышленные объективы становятся узким местом
Инспекция полупроводников
Геометрические отклонения на уровне микрон могут привести к неверной классификации дефектов. Даже незначительное оптическое искажение может значительно повысить уровень ошибочной оценки дефектов.
Прецизионные измерения
Когда положение объекта немного смещается, традиционные объективы вносят перспективные изменения, вызывая колебания результатов измерений.
Инспекция отражающих поверхностей
Материалы, подобные зеркалу, часто создают пересвеченные горячие точки, формируя слепые зоны при инспекции качества.
Обучение машинного зрения
Если данные для обучения получены из искаженных изображений, сама модель ИИ становится скомпрометированной.
Что такое телецентрический объектив и почему это важно
Телецентрические объективы спроектированы так, чтобы главные лучи шли параллельно оптической оси. Эта оптическая структура устраняет перспективные искажения и поддерживает постоянное увеличение во всем поле зрения.
Это обеспечивает:
- Нулевую перспективную ошибку
- Постоянное увеличение
- Ультра-низкие искажения
- Высокоповторяемые измерения
Телецентрические объективы широко используются в:
- Инспекции полупроводниковых пластин
- Инспекции печатных плат и ЖК-панелей
- Системах прецизионной метрологии
- Платформах обучения машинного зрения
- Инспекции литиевых батарей
- Передовой сортировке материалов
Почему выбирают телецентрические объективы Contrastech
Оптический дизайн с ультра-низкими искажениями
Уровень искажений低至 ≤0.01%, соответствующий требованиям инспекции полупроводникового класса.
Поддержка сенсоров сверхвысокого разрешения
- Совместимость с матричными сенсорами до 151MP
- Поддержка 24K линейно-сканирующих камер
Ультра-большое поле зрения
Максимальное поле зрения до 390 мм, идеально подходит для инспекции больших печатных плат, ЖК-панелей и анализа материалов больших площадей.
Широкая совместимость с сенсорами
Поддержка размеров сенсоров от 1/2.5", 1", 2/3", APS-C до полного кадра с изображением круга до 88 мм.
Широкий диапазон увеличения
Варианты увеличения от 0.024X – 8X, поддерживающие как макроскопическую инспекцию, так и измерения на уровне микрон.
Продвинутые спектральные решения
УФ-телецентрические
- Инспекция полупроводников
- Обнаружение микро-трещин
- Прецизионная метрология
SWIR-телецентрические
- Инспекция на проникновение материалов
- Анализ кремниевых пластин
- Инспекция электронной упаковки
Би-телецентрические
- Измерение размеров на субпиксельном уровне
- Системы прецизионной метрологии
- Ультра-стабильное машинное зрение
Обратная связь из отрасли
Как выбрать правильный телецентрический объектив
- Размер сенсора
- Требуемая точность измерений
- Поле зрения
- Спектральные требования (УФ / Видимый / SWIR)
- Необходимость би-телецентрической оптики
Без правильного подбора даже системы машинного зрения высокого класса могут не достичь ожидаемой производительности.
Найдите правильное телецентрическое решение
Contrastech может помочь спроектировать оптимальное телецентрическое оптическое решение для инспекции полупроводников, систем машинного зрения на базе ИИ и прецизионной метрологии.
Свяжитесь с нами для вашего применения