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SWIRテレセントリックレンズ は、高精度なSWIRイメージングおよび測定用に設計された精密光学系であり、 1.1インチセンサー互換性及びCマウントに対応しています。。Contrastechは2つのシリーズを提供しています: TLVS、 400–1200nmの波長範囲と0.7–4.0倍の倍率をカバーし、、 TLSW、 950–1800nmの波長範囲と0.5–4.0倍の倍率をカバーします。。
要求の厳しいマシンビジョンおよび測定アプリケーション向けに設計されたこれらのレンズは、可視光からSWIR帯域および拡張SWIR帯域にわたってテレセントリックなイメージング性能を提供します。これらは、 高精度検査、寸法測定、半導体検査、電子部品検査、およびSWIRマシンビジョンに最適です。。