Коли помилка не є варіантом
Телецентричні об'єктиви є оптичною основою сучасної інспекції напівпровідників, прецизійної метрології та систем зору на основі ШІ.
У середовищах передового виробництва точність зображення визначає надійність результатів інспекції. Якщо оптична система вносить спотворення, зміну масштабу або артефакти відображення, навіть найсучасніші алгоритми не можуть компенсувати помилки на джерелі.
Саме тут телецентричні об'єктиви стають критично важливими.
Телецентрична оптика усуває перспективні помилки, стабілізує масштаб і забезпечує зображення без спотворень, надаючи надійну візуальну основу, необхідну для прецизійної інспекції, метрології та даних для навчання ШІ.
Чому традиційні промислові об'єктиви стають вузьким місцем
Інспекція напівпровідників
Геометричні відхилення на мікроновому рівні можуть призвести до неправильної класифікації дефектів. Навіть незначне оптичне спотворення може значно підвищити частку хибної оцінки дефектів.
Прецизійні вимірювання
Коли положення об'єкта трохи зсувається, традиційні об'єктиви вносять перспективні зміни, що спричиняє коливання результатів вимірювань.
Інспекція відбиваючих поверхонь
Матеріали, схожі на дзеркала, часто створюють пересвічені гарячі точки, утворюючи сліпі зони в інспекції якості.
Навчання зору ШІ
Якщо дані для навчання походять зі спотворених зображень, сама модель ШІ стає скомпрометованою.
Що таке телецентричний об'єктив і чому це важливо
Телецентричні об'єктиви розроблені так, щоб головні промені рухалися паралельно до оптичної осі. Ця оптична структура усуває перспективне спотворення та підтримує постійний масштаб на всьому полі зору.
Це забезпечує:
- Нульову перспективну помилку
- Постійний масштаб
- Наднизьке спотворення
- Високоповторювані вимірювання
Телецентричні об'єктиви широко використовуються в:
- Інспекції напівпровідникових пластин
- Інспекції плат PCB та панелей LCD
- Прецизійних метрологічних системах
- Платформах для навчання зору ШІ
- Інспекції літій-іонних акумуляторів
- Передовому сортуванні матеріалів
Чому варто обирати телецентричні об'єктиви Contrastech
Оптичний дизайн з наднизьким спотворенням
Рівні спотворень на рівні ≤0.01%, що відповідає вимогам інспекції напівпровідникового класу.
Підтримка сенсорів надвисокої роздільної здатності
- Сумісність з матричними сенсорами до 151MP
- Підтримка лінійних камер 24K
Надвелике поле зору
Максимальне поле зору до 390 мм, ідеально підходить для інспекції великих плат PCB, інспекції LCD та аналізу матеріалів великої площі.
Широка сумісність сенсорів
Підтримка розмірів сенсорів від 1/2.5", 1", 2/3", APS-C до повнокадрових з оптичними колами до 88 мм.
Широкий діапазон масштабування
Варіанти масштабування від 0.024X – 8X, що підтримують як макроскопію, так і вимірювання на мікроновому рівні.
Передові спектральні рішення
УФ-телецентричні
- Інспекція напівпровідників
- Виявлення мікротріщин
- Прецизійна метрологія
SWIR-телецентричні
- Інспекція проникнення матеріалів
- Аналіз кремнієвих пластин
- Інспекція електронної упаковки
Бі-телецентричні
- Вимірювання розмірів на субпіксельному рівні
- Прецизійні метрологічні системи
- Надстійкий машинний зір
Зворотний зв'язок від галузі
Як обрати правильний телецентричний об'єктив
- Розмір сенсора
- Потрібна точність вимірювання
- Поле зору
- Спектральні вимоги (УФ / Видимий / SWIR)
- Чи потрібна бі-телецентрична оптика
Без належного підбору навіть системи машинного зору високого класу можуть не досягти очікуваної продуктивності.
Знайдіть правильне телецентричне рішення
Contrastech може допомогти розробити оптимальне телецентричне оптичне рішення для інспекції напівпровідників, систем зору на основі ШІ та прецизійної метрології.
Зв'яжіться з нами щодо вашого застосування