Камера лінійного сканування SWIR: чому використовувати SWIR для промислового контролю?
Коли видимого світла недостатньо, зображення лінійного сканування SWIR пропонує інший спосіб спостереження та інспектування матеріалів, що безперервно рухаються через промислові виробничі лінії.
У сучасному машинному зору багато завдань інспектування вже не стосуються просто виявлення форми, кольору або дефектів поверхні. Реальним викликом часто є:
Саме тут зображення короткохвильового інфрачервоного (SWIR) діапазону стає цінним. У поєднанні з технологією лінійного сканування SWIR забезпечує потужне рішення для безперервно рухомих матеріалів, високоскорисного виробництва, сортування, інспектування стрічок та аналізу матеріалів.
Чому використовувати SWIR замість видимого світла?
Звичайні RGB-камери чудово підходять для виявлення кольору, форми, текстури, зовнішнього вигляду поверхні та геометричних дефектів. Однак деякі матеріали можуть виглядати майже ідентично у видимому світлі, водночас демонструючи дуже різну реакцію в діапазоні SWIR.
Видиме / RGB зображення
Переважно фіксує видимий зовнішній вигляд, такий як колір, форма, текстура та дефекти поверхні.
SWIR зображення
Надає додаткову інформацію, пов'язану зі складом матеріалу, вологістю, покриттями, забрудненням та спектральною відповіддю.
Чому обрати камеру лінійного сканування?
SWIR визначає які довжини хвиль виявляти. Лінійне сканування визначає як інспектувати безперервно рухомі матеріали.
На відміну від камери матричного сканування, камера лінійного сканування захоплює по одній лінії за раз. Коли об'єкт рухається через зону зображення, ці окремі лінії об'єднуються в повне зображення.
Ця архітектура особливо підходить для інспектування на конвеєрах, безперервного сортування матеріалів, виробництва з рулону на рулон, інспектування стрічок, переробки продуктів харчування, переробки відходів, виробництва сонячних елементів та інспектування напівпровідників.
Чому поєднувати SWIR + лінійне сканування?
SWIR
Надає додаткову спектральну інформацію для розрізнення матеріалів, вологості, покриттів, забруднень та інших ознак, що виходять за межі видимого зображення.
Лінійне сканування
Забезпечує безперервне захоплення зображень для рухомих матеріалів та виробничих ліній з високою пропускною здатністю.
Основні застосування лінійного сканування SWIR
Зображення лінійного сканування SWIR не обмежене однією галуззю. Його основною перевагою є надання додаткової інформації про матеріал, коли видиме зображення досягає своїх меж.
Продукти харчування & Сільськогосподарське сортування
SWIR може надати додаткову інформацію, пов'язану з вологістю, складом, забрудненням та сторонніми матеріалами під час безперервного інспектування продуктів харчування та сільськогосподарської продукції.
Переробка відходів & Сортування матеріалів
SWIR може допомогти розрізнити матеріали, які мають схожий видимий зовнішній вигляд, підтримуючи автоматизовану класифікацію матеріалів з високою пропускною здатністю.
Напівпровідники & Електроніка
SWIR може доповнювати видиме інспектування для кристалів, чипів, з'єднань, вирівнювання та вибраних застосувань інспектування, пов'язаних із підповерхневими шарами.
Сонячний елемент & Фотоелектрика
Зображення лінійного сканування SWIR може підтримувати безперервне інспектування фотоелектричних кристалів, елементів, поверхонь та виробничих процесів.
Виявлення вологості
Матеріали з різними умовами вологості можуть демонструвати різну реакцію SWIR, створюючи можливості для безконтактного інспектування.
Плівка & Інспектування покриттів
SWIR може надати додатковий контраст для плівок, покриттів, клеїв, забруднень та різниць між шарами матеріалів.
Сімейство камер лінійного сканування SWIR Contrastech
Contrastech пропонує три основні конфігурації камер лінійного сканування SWIR, що охоплюють від 512 пікселів до 2K пікселів, усі розроблені для діапазону SWIR 950–1700 нм.
Практична конфігурація для стандартного інспектування, сортування та застосувань, орієнтованих на чутливість.
Збалансоване рішення для загального промислового інспектування SWIR та аналізу матеріалів.
Розроблена для вищої просторової дискретизації та більш детального інспектування на виробничих лініях.
Вибір камери повинен базуватися на ширині інспектування, робочій відстані, швидкості об'єкта, мінімальному розмірі дефекту, необхідній просторовій роздільній здатності та системному інтерфейсі.
Яку роздільну здатність лінійного сканування SWIR вам потрібна?
| Модель | Роздільна здатність | Частота кадрів | Спектральний діапазон | Типове призначення |
|---|---|---|---|---|
| iBt-SW05K | 512 x 2 | 29.4 кГц | 950–1700 нм | Стандартне інспектування / сортування |
| iBt-SW1K | 1024 x 1 |
29.4 кГц 40 кГц |
950–1700 нм | Загальне промислове інспектування |
| iBt-SW2K |
2048 x1 2560 x 1 |
40 кГц 196 кГц |
950–1700 нм | Інспектування з вищою роздільною здатністю |
Камера SWIR + об'єктив SWIR: Повне оптичне рішення
Сама по собі камера SWIR не створює повну систему зображення. Об'єктив також повинен відповідати необхідному діапазону довжин хвиль SWIR.
Камера
Роздільна здатність, чутливість, швидкість ліній, інтерфейс та спектральна відповідь.
Об'єктив SWIR
Спектральне пропускання, фокусна відстань, поле зору, робоча відстань та оптична роздільна здатність.
Освітлення SWIR
Довжина хвилі, оптична потужність, геометрія освітлення та однорідність у зоні інспектування.
Рух & Обробка
Швидкість об'єкта, синхронізація з енкодером, захоплення зображень та алгоритми інспектування.
RGB + SWIR: Більш повна система зору
SWIR не обов'язково замінює RGB. У багатьох промислових застосуваннях найкращим рішенням є поєднання обох технологій зображення.
RGB
Колір + Форма + Текстура + Зовнішній вигляд поверхні
Ідеально підходить для звичайного інспектування поверхні та геометрії.
SWIR
Матеріал + Вологість + Покриття + Спектральна відповідь
Додає інформацію, що виходить за межі видимого спектру.
Як обрати рішення з лінійним скануванням SWIR
Перед вибором камери спочатку визначте застосування інспектування.
Що ви інспектуєте?
Яка інформація відсутня в RGB?
Наскільки швидко рухається ціль?
Яке поле зору потрібне?
Яка просторова роздільна здатність потрібна?
Наскільки далеко камера від цілі?
Яке джерело світла SWIR доступне?
Який інтерфейс захоплення потрібен?
Дивіться за межі видимого світла за допомогою SWIR
Коли видимого зображення достатньо, RGB залишається чудовим вибором. Але коли матеріали виглядають схожими, потрібно виявляти вологість, інспектувати покриття або виробничі лінії вимагають безперервного аналізу матеріалів, SWIR може надати ще один рівень інформації.
За допомогою камер лінійного сканування SWIR діапазону 950–1700 нм, спеціалізованої SWIR оптики та відповідного освітлення, Contrastech пропонує гнучкі рішення для застосувань промислового машинного зору, де видимого зображення більше не достатньо.
Досліджуйте камери SWIR ContrastechДосліджуйте більше застосувань SWIR
Продукти харчування & Сільськогосподарське сортування
Дізнайтеся, як зображення лінійного сканування SWIR може допомогти ідентифікувати різниці в матеріалах, вологості та забрудненнях.
Читати далі →Переробка відходів & Класифікація матеріалів
Досліджуйте застосування SWIR для автоматизованого сортування матеріалів.
Читати далі →Інспектування напівпровідників
Дізнайтеся, як SWIR може доповнювати видиме інспектування у виробництві напівпровідників.
Читати далі →Інспектування сонячних елементів
Дізнайтеся про зображення лінійного сканування SWIR для фотоелектричного виробництва та інспектування.
Читати далі →Виявлення вологості SWIR
Зрозумійте, чому SWIR може виявляти різниці, пов'язані з вологістю, невидимі для RGB-камер.
Читати далі →Як обрати об'єктив SWIR
Дізнайтеся, як довжина хвилі, фокусна відстань, робоча відстань та поле зору впливають на зображення SWIR.
Читати далі →