TLVS-H1.1 Görünür–SWIR Telemerkezli Lens | Odak Kayması Düzeltme 400–1200nm

ContrastechSTK:TLVS-0.7XD-H1.1
Yorum yok

Dalga Boyu: 400-1200nm 1.1" C-Mount
Teknik Özellikler: 0.7x Koaksiyel
Fiyat:
İndirimli fiyat$6,800.00

Kargo, ödeme sayfasında hesaplanır.

⚠️ Destination Duties & Taxes Not Included

💰 Buy more, save on shipping. Contact market@contrastech.com for a discounted shipping rate.

  • In-stock items: Ready for quick shipment.
  • Pre-order items: Typically require around 7 days for preparation. We will notify you promptly after your order.
  • Proforma lnvoice Needed: Please create a draft order to obtain.

Estimated Delivery Time

Ship To Detecting...

Delivery: -

Açıklama

Ürün Açıklaması

Hassas Görüntüleme İçin Odak Kayması Düzeltmeli Görünür–SWIR Telemerkezli Lens

TLVS-H1.1 Serisi, 400 ila 1200nm arasında geniş bir dalga boyu aralığında görüntüleme gerektiren gelişmiş makine görüsü uygulamaları için tasarlanmış, yüksek performanslı bir Görünür–SWIR telemerkezli lensidir. Benzersim odak kayması düzeltme teknolojisi, görünür ışıktan kısa dalga boyu kızılötesine (SWIR) tutarlı görüntü odağını sağlayarak çok spektrumlu muayenede yeniden odaklama ihtiyacını ortadan kaldırır.

Bu seri, kullanıcılara hem görünür hem de iletilen SWIR görüntülerini yüksek kararlılıkla yakalamayı sağlayarak, standart görünür ışık görüntülemesi altında görünmeyen iç yapıların ve kusurların tespitine olanak tanır. Yaklaşık 1100nm iletim dalga boyunda silikon wafer muayenesi ve IC iç devre görüntülemesi için özellikle etkilidir.

0.7X, 1.0X, 2.0X ve 4.0X büyütme oranlarında mevcut olan TLVS-H1.1 serisi, hem koaksiyel hem de koaksiyel olmayan yapılandırmaları destekleyerek farklı endüstriyel muayene sistemleri için esnek entegrasyon sağlar.

Temel Özellikler

✔ Görünür–SWIR Geniş Bant Görüntüleme (400–1200nm)
Görünür ışıktan SWIR spektrumuna kesintisiz görüntülemeyi destekler.

✔ Odak Kayması Düzeltme Teknolojisi
Ayar gerektirmeden birden fazla dalga boyunda keskin odağı korur.

✔ Telemerkezli Optik Tasarım
Bozulmasız görüntüleme ve yüksek ölçüm doğruluğu sağlar.

✔ Çoklu Büyütme Seçenekleri (0.7X–4.0X)
Çeşitli makine görüsü uygulamaları için esnek yapılandırmalar.

✔ IC Silikon İletim Görüntüleme (~1100nm)
Silikon waferlar üzerinden iç devre muayenesini mümkün kılar.

✔ Koaksiyel / Koaksiyel Olmayan Versiyonlar Mevcut
Yansıtıcı ve iletimli muayene sistemleri için uygundur.

İdeal Uygulamalar

  • Yarı İletken Wafer Muayenesi
  • IC İç Devre Görüntüleme
  • Silikon İletim Muayenesi
  • Elektronik Üretimi
  • Spektrumlar Arası Kusur Tespiti
  • Hassas Metroloji
  • Gelişmiş Makine Görüsü Sistemleri
  • Çok Spektrumlu Endüstriyel Görüntüleme

Teknik Özellikler

400-1200nm VIS-SWIR C-Bağlantılı Telemerkezli Lens

Model Büyütme WD Görüntü Çemberi Koaksiyel
TLVS-0.7XD-H1.1 0.7X 110 mm Φ20.5 mm Evet
TLVS-0.7X-H1.1 0.7X 110 mm Φ20.5 mm Hayır
TLVS-1.0XD-H1.1 1.0X 110 mm Φ24 mm Evet
TLVS-1.0X-H1.1 1.0X 110 mm Φ24 mm Hayır
TLVS-2.0XD-H1.1 2.0X 110 mm Φ24 mm Evet
TLVS-2.0X-H1.1 2.0X 110 mm Φ24 mm Hayır
TLVS-4.0XD-H1.1 4.0X 110 mm Φ20.5 mm Evet
TLVS-4.0X-H1.1 4.0X 110 mm Φ20.5 mm Hayır

SWIR Lens İndir

Datasheet Download

Q1: What is the TLVS-H1.1 series used for?
A: The TLVS-H1.1 is a Visible–SWIR telecentric lens series designed for semiconductor inspection, IC imaging, silicon transmission analysis, and multi-spectral machine vision applications.

Q2: What is focus shift correction in this lens?
A: Focus shift correction allows the lens to maintain consistent focus across 400–1200nm wavelengths, eliminating the need to refocus when switching between visible and SWIR imaging.

Q3: Can this lens capture internal structures through silicon?
A: Yes. At around 1100nm transmission wavelength, the lens can image internal IC circuits and structures through silicon wafers.

Q4: What magnification options are available?
A: The series supports 0.7X, 1.0X, 2.0X, and 4.0X magnifications, suitable for different inspection and measurement requirements.

Q5: What is the advantage of a telecentric design?
A: Telecentric optics ensure low distortion, stable magnification, and high measurement accuracy, which is essential for precision inspection.

Q6: Does the lens support both coaxial and non-coaxial setups?
A: Yes, the TLVS-H1.1 series is available in coaxial and non-coaxial versions, depending on the application environment.

Q7: What industries commonly use this lens?
A: It is widely used in semiconductor manufacturing, IC inspection, electronics production, precision metrology, and advanced machine vision systems.

Q8: What is the wavelength range of this lens?
A: The lens operates across a wide 400–1200nm spectral range, covering both visible and SWIR imaging.

Kargo hesaplama

Payment & Security

PayPal

Ödeme bilgileriniz güvenli bir şekilde işlenir. Kredi kartı bilgilerinizi saklamayız ve kredi kartı bilgilerinize erişimimiz yoktur.

You may also like

Recently viewed