1. What is the iBt-UV9KT used for?
The iBt-UV9KT is designed for silicon wafer inspection, semiconductor surface inspection, wafer defect detection, and high-speed automated imaging.
2. Why use UV imaging for silicon wafer inspection?
UV imaging can provide additional material and surface information that may not be easily captured with visible-light imaging, making it useful for specialized wafer inspection applications.
3. What is the resolution of the iBt-UV9KT?
The camera provides 9072 × 256 resolution with 5 μm pixels, supporting detailed line scan imaging for silicon wafer inspection.
4. How does 256-TDI improve wafer inspection?
The 256-TDI structure accumulates optical signals across multiple stages during scanning, increasing effective sensitivity and helping capture subtle features during high-speed wafer inspection.
5. Is the iBt-UV9KT suitable for automated wafer inspection systems?
Yes. Its high line rate, 9K resolution, CXP12 interface, and TDI architecture make it suitable for integration into automated semiconductor and wafer inspection equipment.
6. What optical configuration can be used with the iBt-UV9KT?
The camera uses an M72 lens mount and can be integrated with suitable UV optics selected according to the wafer size, field of view, working distance, and inspection requirements.
Estimated Delivery Time
Ship To Detecting...
Delivery: -
Açıklama
Ürün Açıklaması
Hassas Endüstriyel Muayene İçin Yüksek Hızlı NIR TDI Satır Taramalı Kamera
iBt-250NX4KT256-M42, zorlu yüksek hızlı endüstriyel muayene uygulamaları için tasarlanmış yüksek performanslı bir NIR TDI satır taramalı kameradır. 4096 × 256 çözünürlük, gelişmiş 256 kademeli TDI teknolojisi ve 150kHz'ye kadar satır hızı özellikleriyle, düşük ışık ve yüksek hızlı görüntüleme ortamlarında üstün duyarlılık ve görüntü kalitesi sunar.
CoaXPress CXP-6 arayüzü ile donatılmış olan kamera, hassas makine vizyonu sistemleri, yarı iletken muayenesi, ekran muayenesi ve bilimsel görüntüleme uygulamaları için kararlı yüksek bant genişliğinde görüntü iletimi sağlar.
Temel Özellikler
✔ 4096 × 256 Yüksek Çözünürlüklü Görüntüleme
Detaylı ve doğru satır taramalı görüntü edinimi sağlar.
✔ 256 Kademeli TDI Teknolojisi
Düşük ışık ortamlarında duyarlılığı ve sinyal-gürültü performansını artırır.
✔ 250kHz Ultra Yüksek Satır Hızı
Yüksek hızlı muayene ve sürekli üretim hattı görüntülemesini destekler.
✔ Geliştirilmiş NIR Duyarlılığı
Yakın Kızılötesi görüntüleme ve hassas muayene uygulamaları için optimize edilmiştir.
✔ CoaXPress CXP-6 Arayüzü
Endüstriyel sistemler için güvenilir yüksek hızlı veri iletimi sağlar.
✔ Endüstriyel Sınıf Kompakt Tasarım
Sürekli çalışma ve esnek entegrasyon için kararlı performans.
Teknik Özellikler
| Model |
iBt-250NX4KT256-M42
|
| TDI |
256-TDI
|
|
Çözünürlük
|
4096×256
|
|
Satır Frekansı
|
250kHz |
|
Piksel Boyutu
|
5μm |
| Görüntü Rengi | NIR |
| Arayüz | CXP-6 |
| Lens Bağlantısı | M42 |
İdeal Uygulamalar
- Yarı İletken Wafer Muayenesi
- OLED & Ekran Muayenesi
- Pil & Güneş Paneli Muayenesi
- Web & Baskı Muayenesi
- Yüksek Hızlı Endüstriyel Otomasyon
- Bilimsel & NIR Görüntüleme Sistemleri
Kargo hesaplama
Payment & Security
Ödeme bilgileriniz güvenli bir şekilde işlenir. Kredi kartı bilgilerinizi saklamayız ve kredi kartı bilgilerinize erişimimiz yoktur.