CLW2-10MP 시리즈 WD 220mm 고해상도 텔레센트릭 렌즈

Contrastech제품번호: CLW2-0.22X-220-H1.1
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설명

제품 설명

AOI 및 머신 비전용 고정밀 220mm 작업거리 정심 렌즈

CLW2-10MP 시리즈 정심 렌즈는 고정밀 산업용 영상 응용을 위해 설계되었으며, 까다로운 머신 비전 시스템에 초저 왜곡과 고해상도 성능을 제공합니다. 220mm의 긴 작업거리(WD)로 설계된 이 렌즈들은 자동 검사 환경에서 조명 통합 및 기계적 레이아웃에 뛰어난 유연성을 제공합니다.

10MP 산업용 센서 및 최대 1.1" 포맷 카메라에 최적화된 CLW2-10MP 시리즈는 선명하고 안정적이며 반복 가능한 영상 성능을 보장합니다. 넓은 시야각(FOV)을 갖춘 저배율 설계는 고속 AOI 시스템 및 정밀 측정 작업에 이상적입니다.

높은 정심성과 초저 왜곡을 갖춘 이 렌즈는 고속 생산 환경에서도 정확한 치수 측정과 일관된 영상 결과를 보장합니다.

주요 특징

✔ 220mm 긴 작업거리(WD)
조명 시스템 및 기계적 구조와의 쉬운 통합.

✔ AOI 응용에 최적화
고속 자동 광학 검사 시스템용으로 설계됨.

✔ 저배율의 넓은 시야각
광역 검사 및 생산 라인 모니터링에 이상적.

✔ 초저 왜곡 정심 설계
정확하고 반복 가능한 치수 측정 보장.

✔ 높은 정심성 성능
전체 시야에서 일관된 배율 유지.

✔ 최대 1.1" / 10–12MP 카메라 지원
고해상도 산업용 영상 시스템과 호환 가능.

이상적인 응용 분야

  • AOI (자동 광학 검사)
  • 반도체 검사
  • 전자 제조
  • PCB 검사
  • 정밀 계측
  • 산업 품질 관리
  • 고속 생산 라인 검사
  • 머신 비전 측정 시스템
모델
배율(x)
동축
최대 센서 크기
(Φmm)
CLW2-0.22X-220-H1.1
0.22
아니오
18.0(1.1")
CLW2-0.23X-220-H1.1
0.23
아니오
18.0(1.1")
CLW2-0.246X-220-H1.1
0.246
아니오
18.0(1.1")
CLW2-0.275X-220-H1.1
0.275
아니오
18.0(1.1")
CLW2-0.3X-220-23
0.3
아니오
11.0(2/3")
CLW2-0.3X-220D-23
0.3
예
11.0(2/3")
CLW2-0.345XH-220-H1.1
0.345
아니오
18.0(1.1")
CLW2-0.367XH-220-H1.1
0.367
아니오
18.0(1.1")
CLW2-0.46X-220-H1
0.46
아니오
16.0(1")
CLW2-0.46X-220D-H1
0.46
예
16.0(1")
CLW2-0.5X-220-H1
0.5
아니오
16.0(1")
CLW2-0.5X-220D-H1
0.5
예
16.0(1")
CLW2-0.55XH-220-H1.1
0.55
아니오
18.0(1.1")
CLW2-0.55X-220D-H1.1
0.55
예
18.0(1.1")

정심 렌즈 다운로드

Q1: CLW2-10MP 시리즈는 무엇에 사용됩니까?
A: AOI 시스템, 반도체 검사, PCB 검사, 그리고 고정밀을 요구하는 산업용 머신 비전 애플리케이션용으로 설계되었습니다.

Q2: 이 렌즈의 작동 거리는 얼마입니까?
A: 이 렌즈는 220mm의 긴 작동 거리를 특징으로 하여 조명 및 기계 시스템과의 유연한 통합을 가능하게 합니다.

Q3: 어떤 센서 크기를 지원합니까?
A: 최대 1.1인치 센서와 10-12MP 등급 산업용 카메라를 지원합니다.

Q4: AOI에서 텔레센트릭 렌즈의 장점은 무엇입니까?
A: 텔레센트릭 렌즈는 낮은 왜곡, 안정적인 배율, 높은 측정 정확도를 보장하며, 이는 AOI 검사에 필수적입니다.

Q5: 이 렌즈는 넓은 시야(Field of View)를 제공합니까?
A: 예, 넓은 FOV를 가진 낮은 배율 디자인이 특징이며, 넓은 영역 검사 작업에 이상적입니다.

Q6: 이 렌즈는 고속 생산 라인에 적합합니까?
A: 예, 고속 AOI 및 산업 자동화 환경에 최적화되어 있습니다.

Q7: 왜곡 수준은 어느 정도입니까?
A: 이 렌즈는 초저왜곡으로 설계되어 정밀한 기하학적 측정 정확도를 보장합니다.

Q8: 이 렌즈는 어떤 산업에서 일반적으로 사용됩니까?
A: 전자 제품 제조, 반도체 검사, 계측학 및 자동 광학 검사 시스템에서 널리 사용됩니다.

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