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제품 설명
정밀 계측 및 대규모 검사용 초고해상도 245MP CoaXPress-12 산업용 카메라
Mars245MS-2XM/C-M72는 Sony IMX811 롤링 셔터 CMOS 센서를 기반으로 한 차세대 245MP 초고해상도 산업용 카메라입니다. 19200 × 12800 픽셀의 해상도와 53.95 × 35.97 mm의 대형 센서 포맷을 갖추고 있어 고급 머신 비전, 계측 및 과학적 응용 분야에 극도로 상세한 이미지를 제공합니다.
CoaXPress-12 고속 인터페이스 기술을 지원하여 대용량 이미지 데이터의 안정적이고 낮은 지연 시간의 전송을 보장하며, 정밀도와 처리량이 중요한 대규모 검사 시스템에 적합합니다.
12.4 fps의 프레임 레이트를 제공하여 웨이퍼 검사, 평판 디스플레이 분석, 정밀 측정 시스템과 같이 고해상도 정지 또는 느린 이동 검사 작업에 최적화되었습니다. 내장 ISP 알고리즘은 대비를 향상시키고 노이즈를 줄이며 동적 범위를 최적화하여 이미지 품질을 개선합니다.
M72 렌즈 마운트는 고급 산업용 광학 기기와의 호환성을 제공하여 까다로운 환경에서 최대의 이미지 성능을 보장합니다.
주요 특징
✔ 245MP 초고해상도 이미징
대규모 검사에 극도로 세밀한 디테일을 제공합니다.
✔ Sony IMX811 CMOS 센서
대형 이미지 영역을 갖춘 고성능 롤링 셔터 센서입니다.
✔ CoaXPress-12 고속 인터페이스
안정적인 멀티 기가비트 데이터 전송을 가능하게 합니다.
✔ 내장 ISP 처리
노이즈 감소 및 선명도 향상을 통해 이미지 품질을 향상시킵니다.
✔ 대형 센서 포맷 (53.95 × 35.97 mm)
넓은 시야각의 고해상도 이미징을 가능하게 합니다.
이상적인 응용 분야
- 반도체 웨이퍼 검사
- 평판 디스플레이 검사
- 포토마스크 & 리소그래피 검사
- 항공우주 부품 계측
- 정밀 과학적 이미징
- PCB 전체 필드 검사
- AOI 검사
- 산업 품질 관리 시스템
사양
| 모델 | Mars245MS-12XM / Mars245MS-12XC |
| 해상도 | 19200 × 12800 |
| 프레임 레이트 | 12.4 fps |
| 센서 유형 | Sony IMX811 CMOS (64.84 mm) |
| 픽셀 크기 | 2.81 × 2.81 μm |
| 비트 깊이 | 12-bit |
| 단색 / 컬러 | 단색 / 컬러 (Bayer RG) |
| 셔터 유형 | 롤링 셔터 |
| SNR | 44.07 dB |
| 동적 범위 | 71.7 dB |
| 이미지 포맷 | Mono8 / Mono10 / Mono12 / Bayer RG8 / RG10 / RG12 |
| ROI | 지원 |
| 플립 (X/Y) | 지원 |
| SPC | 지원 |
| 노출 시간 | 62 μs – 60 s |
| 데이터 인터페이스 | CoaXPress-12 (CXP-12) |
| 소비 전력 | 30 W |
| 렌즈 마운트 | M72 × 0.75 |
렌즈 사양
가변 조리개 M72 150MP 텔레센트릭 렌즈
| 모델 | 동축 | WD | 배율 | FOV |
| BTLM-7.5X-49-Q667(1A) | 아니오 | 49mm | 0.75x | 8.9mm |
| BTLM-7.5X-49D-Q667(IA) | 예 | 49mm | 0.75x | 8.9mm |
표준 M72 150MP 렌즈
| 모델 | EFL | 배율 | WD |
|---|---|---|---|
| VT-LEN72-5545MP150 | 55mm | 0.01x–0.5x | 98mm–∞ |
| VT-LEN72-9040MP150 | 90mm | 0.08x–0.14x | 722–1229mm |
| VT-LEN72-11635MP150 | 116mm | 0.93x–1.07x | 176–192mm |
| VTL-8035-0.3X-FB1955 | 80mm | 0.3x | 280mm–∞ |
| VTL-8035-0.3X-FB465 | 80mm | 0.3x | 280mm–∞ |
| VTL-8035-0.3X-FB318 | 80mm | 0.3x | 280mm–∞ |
AOI 검사에서 텔레센트릭 렌즈를 사용하는 이유는?
| 표준 렌즈 | 텔레센트릭 렌즈 |
|---|---|
| 원근법 왜곡 (가까울수록 크게, 멀수록 작게) | 원근법 왜곡 없음 |
| 거리에 따라 배율 변화 | 일정한 배율 |
| 측정에 부적합 | 정밀 계측을 위해 설계됨 |
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