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제품 설명
산업용 검사용 고속 SWIR 면 스캔 카메라
iBX-SWU993A/J는 머신 비전 및 과학적 영상화를 위해 설계된 고성능 SWIR 산업용 카메라입니다. 400–1700nm 스펙트럼 범위를 갖춘 1/1.8" InGaAs 센서를 탑재하여 저조도, 적외선 및 소재 검사 응용 분야에서 신뢰성 있는 영상화를 구현합니다.
8-bit 기준 최대 2048 × 1536 해상도에서 93fps의 속도와 12-bit 고 다이내믹 레인지를 제공하여 속도 및 정밀성을 모두 충족합니다. 글로벌 셔터는 고속 이동 물체의 왜곡 없는 캡처를 보장하며, USB3.0 인터페이스는 안정적인 고속 데이터 전송을 제공합니다.
통합 TEC 냉각 시스템은 센서 온도를 주변 온도보다 최대 25°C 낮게 안정화시켜, 장시간 산업 사용 시 일관된 성능을 보장합니다.
주요 특징
✔ SWIR 400–1700nm 스펙트럼 범위
고급 적외선 및 소재 검사 응용 분야를 지원합니다.
✔ 2048×1536 해상도에서 최대 93FPS 고속 영상화
빠른 동적 검사 및 실시간 분석을 가능하게 합니다.
✔ 12-bit 고 다이내믹 레인지 출력
복잡한 영상 조건에서의 대비 및 디테일을 향상시킵니다.
✔ TEC 냉각 시스템 (-25°C 안정화)
산업 환경에서의 안정적인 영상화 성능을 보장합니다.
✔ USB3.0 고속 인터페이스
머신 비전 시스템을 위한 신뢰성 있고 효율적인 데이터 전송.
이상적인 응용 분야
- 반도체 검사
- 소재 및 웨이퍼 분석
- 산업 품질 관리
- 과학적 SWIR 영상화
- 전자 부품 검사
- 자동화 및 공정 모니터링
사양
| 모델 |
iBX-SWU993A/J
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|---|---|
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센서
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IMX993
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해상도
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2048x1536
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프레임 속도
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93fps
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픽셀 크기
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3.45 μm x 3.45 μm
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센서 크기
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1/1.8"
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인터페이스
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USB3.0
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냉각
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A: TEC 냉각 J: 외부 냉각
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파장
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400-1700nm
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렌즈 마운트
|
C-mount
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IMX993 SWIR 카메라 개요
| 모델 |
센서
|
프레임 속도
|
파장
|
인터페이스
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|---|---|---|---|---|
|
iBX-SWU993A/J
|
IMX993
|
93fps
|
400-1700nm
|
USB3.0
|
|
iBX-SWU993J-Lite
|
IMX993
|
93fps
|
400-1700nm |
USB3.0
|
|
iBX-SWC993A
|
IMX993
|
150fps
|
400-1700nm |
CameraLink
|
|
iBX-SWTG993A
|
IMX993
|
220fps
|
400-1700nm |
10GigE
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2048x1536 IMX993 SWIR 카메라 문서 다운로드
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