예상 배송 시간
Ship To Detecting...
Delivery: -
설명
제품 설명
정밀 산업 검사용 고성능 SWIR 텔레센트릭 렌즈
TLSW 시리즈 SWIR 텔레센트릭 렌즈는 950–1800nm 파장 범위를 지원하는 고급 단파장 적외선(SWIR) 영상 시스템용으로 설계되었습니다. Sony IMX990 및 1.1" InGaAs 센서에 최적화되어 가시광선 스펙트럼에서 볼 수 없는 결함 및 재료 차이를 감지하는 데 뛰어난 성능을 제공합니다.
텔레센트릭 광학 설계를 통해 렌즈는 정밀 측정 및 검사 응용 분야에 정확하고 왜곡 없는 영상을 보장합니다. 1.0X 및 2.0X 배율로 제공되며, 조정 가능한 조리개 설계를 갖추고 있어 검사 요구 사항에 따라 초점 거리와 영상 대비를 최적화할 수 있습니다.
TLSW 시리즈는 동축 및 비동축 구성 모두로 제공되어 다양한 산업용 머신 비전 시스템에 적응할 수 있습니다.
주요 특징
✔ 950–1800nm SWIR 투과 범위
가시광선 너머의 단파장 적외선 영상에 최적화됨.
✔ Sony IMX990 / 1.1" InGaAs 센서 호환
고감도 SWIR 머신 비전 시스템용으로 설계됨.
✔ 텔레센트릭 광학 설계
왜곡 없이 높은 정확도의 측정 영상을 보장합니다.
✔ 1.0X / 2.0X 배율 옵션
다양한 검사 요구 사항에 대한 유연한 구성.
✔ 조정 가능한 조리개 (일부 모델)
초점 거리 최적화 및 영상 대비 제어 가능.
✔ 동축 / 비동축 버전 제공
반사 및 비반사 표면 검사 지원.
이상적인 응용 분야
- 반도체 웨이퍼 검사
- 실리콘 재료 분석
- 전자 부품 검사
- 가시 스펙트럼 너머의 결함 감지
- 정밀 계측
- 고급 SWIR 영상 시스템
- 연구 & 과학적 영상화
- 산업 자동화 검사
사양
| 모델 |
동축
|
배율
|
WD
(mm)
|
F/#
|
물체
측 NA
|
DOF
(mm)
|
|---|---|---|---|---|---|---|
|
TLSW-0.5XD-H1.1
|
예
|
0.5
|
116.4
|
6.3
|
0.040
|
2.02
|
|
TLSW-0.7XD-H1.1
|
예
|
0.7
|
116.0
|
6.4
|
0.055
|
1.05
|
|
TLSW-1.0XD-H1.1
|
예
|
1.0
|
110.0
|
7.0
|
0.071
|
0.56
|
|
TLSW-1.0X-H1.1
|
아니오
|
1.0
|
110.0
|
7.0
|
0.071
|
0.56
|
|
TLSW-2.0XD-H1.1
|
예
|
2.0
|
110.2
|
11.5
|
0.087
|
0.23
|
|
TLSW-2.0X-H1.1
|
아니오
|
2.0
|
110.2
|
11.5
|
0.087
|
0.23
|
|
TLSW-4.0XD-H1.1
|
예
|
4.0
|
110.3
|
20.0
|
0.100
|
0.10
|
SWIR 렌즈 다운로드
배송예상
결제 및 보안
귀하의 결제 정보는 안전하게 처리됩니다. 당사는 신용카드 정보를 저장하지 않으며 귀하의 신용카드 정보에 접근할 수 없습니다.