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설명
BTL-175 시리즈 바이-텔레센트릭 렌즈는 1.75'' 센서를 위해 설계되었으며, 0.097x에서 1.115x의 배율 범위를 제공하여 정밀 측정 및 검사 요구 사항을 충족합니다. 이러한 렌즈는 초저 왜곡을 특징으로 하며 전체 시야에 걸쳐 일관된 배율을 제공하여 치수 측정, 결함 검사 및 계측과 같은 작업에서 선명하고 정확한 이미지를 보장합니다. BTL-175 시리즈는 품질 관리 및 영상 분석에서 선명도, 정밀도 및 신뢰할 수 있는 성능이 필수적인 산업 응용 분야에 이상적입니다.
주요 특징
■ 시리즈 이름: BTL-175 SERIES
■ 적합: 영역 스캔 카메라
■ 최대 센서 크기(Φmm): 29(1.75")
■ 마운트: C 마운트
■ 왜곡(% max):<0.1
■ 텔레센트릭성(° max):<0.1
| 모델 |
WD(mm)
|
FOV(Φmm)
|
Mag.(x)
|
|---|---|---|---|
|
BTL-1.115XH-73-175(LM)
|
73±1
|
26
|
1.115 |
|
BTL-0.806XH-110-175(LM)
|
110±2
|
36 | 0.806 |
|
BTL-0.69XH-118-175(LM)
|
118±3
|
42 | 0.69 |
|
BTL-0.604XH-128-175(LM)
|
128±3
|
48 | 0.604 |
|
BTL-0.604X-138-175(LM)
|
128±3
|
48 | 0.604 |
|
BTL-0.518XH-138-175(LM)
|
128±3
|
56 | 0.518 |
|
BTL-0.453X-158-175(LM)
|
158±3
|
64 | 0.453 |
|
BTL-0.403XH-178-175(LM)
|
178±3
|
72 | 0.403 |
|
BTL-0.363XH-228-175(LM)
|
228±4
|
80 | 0.363 |
|
BTL-0.322XH-208-175(LM)
|
208±3
|
90 | 0.322 |
|
BTL-0.29XH-258-175(LM)
|
258±4
|
100 | 0.29 |
|
BTL-0.264X-263-175(LM)
|
263±4
|
110 | 0.264 |
|
BTL-0.242X-273-175(LM)
|
273±5
|
120 | 0.242 |
|
BTL-0.213X-288-175(LM)
|
288±5
|
136 | 0.213 |
|
BTL-0.193XH-300-175(LM)
|
300±5
|
150 | 0.193 |
|
BTL-0.171X-318-175(LM)
|
318±5
|
170 | 0.171 |
|
BTL-0.153XH-330-175(LM)
|
330±5
|
190 | 0.153 |
|
BTL-0.134X-372-175(LM)
|
372±5
|
216 | 0.134 |
|
BTL-0.121XH-410-175(LM)
|
410±6
|
240 | 0.121 |
|
BTL-0.112X-338-175(LM)
|
338±5
|
258 | 0.112 |
|
BTL-0.097XH-465-175(LM)
|
465±6
|
300 | 0.097 |
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