설명
400-1800nm IMX990 IMX991 IMX992 SWIR 영역 스캔 카메라
CONTRASTECH Area Scan Cameras는 가시광선 및 단파 적외선 스펙트럼에서 뛰어난 이미징을 제공합니다. 소니의 고급 SenSWIR 기술을 활용한 이 카메라는 높은 감도와 정밀도를 제공하여 반도체 검사, 재료 분류 및 의료 이미징 분야에 이상적입니다. 여러 센서 옵션을 통해 광범위한 산업적 요구에 맞는 다재다능한 솔루션을 제공합니다.
모델 |
감지기
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해결
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인터페이스
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센서 크기
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픽셀 크기
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257GSW32M
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IMX991
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640x512
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기가
|
1/4인치
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5㎛(마이크로미터) |
400USW32M
|
IMX991
|
640x512
|
USB3.0
|
1/4인치
|
5㎛(마이크로미터)
|
90GSW130M
|
IMX990
|
1280x1024
|
기가
|
1/2”
|
5㎛(마이크로미터)
|
200USW130M
|
IMX990
|
1280x1024
|
USB3.0
|
1/2”
|
5㎛(마이크로미터)
|
22GSW500M
|
IMX992
|
2592×2056
|
기가
|
1/1.4인치
|
3.45㎛(마이크로미터)
|
71USW500M
|
IMX992
|
2592×2056
|
USB3.0
|
1/1.4인치
|
3.45㎛(마이크로미터)
|
200USW130M-SJ-M42
|
인듐갈륨비소(InGaAs)
|
1280x1024
|
USB3.0
|
1.5인치 |
15㎛ (마이크로미터)
|
200TGSW130M-SJ-M42
|
인듐갈륨비소(InGaAs)
|
1280x1024
|
10기가비트
|
1.5인치
|
15㎛ (마이크로미터)
|
200CSW130M-CM/HP-M42
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인듐갈륨비소(InGaAs)
|
1280x1024
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카메라링크
|
1.5인치
|
15㎛ (마이크로미터)
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스펙트럼 범위
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400-1800nm
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스캔 유형 |
영역 스캔
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산
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C/ M42 - 마운트 |
배송예상
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