1. What is the iBt-UV9KT used for?
The iBt-UV9KT is designed for silicon wafer inspection, semiconductor surface inspection, wafer defect detection, and high-speed automated imaging.
2. Why use UV imaging for silicon wafer inspection?
UV imaging can provide additional material and surface information that may not be easily captured with visible-light imaging, making it useful for specialized wafer inspection applications.
3. What is the resolution of the iBt-UV9KT?
The camera provides 9072 × 256 resolution with 5 μm pixels, supporting detailed line scan imaging for silicon wafer inspection.
4. How does 256-TDI improve wafer inspection?
The 256-TDI structure accumulates optical signals across multiple stages during scanning, increasing effective sensitivity and helping capture subtle features during high-speed wafer inspection.
5. Is the iBt-UV9KT suitable for automated wafer inspection systems?
Yes. Its high line rate, 9K resolution, CXP12 interface, and TDI architecture make it suitable for integration into automated semiconductor and wafer inspection equipment.
6. What optical configuration can be used with the iBt-UV9KT?
The camera uses an M72 lens mount and can be integrated with suitable UV optics selected according to the wafer size, field of view, working distance, and inspection requirements.
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説明
製品説明
精密産業検査向け高速NIR TDIラインスキャンカメラ
iBt-250NX4KT256-M42は、過酷な高速産業検査アプリケーション向けに設計された高性能NIR TDIラインスキャンカメラです。4096 × 256の解像度、高度な256段TDI技術、最大150kHzのラインレートにより、低照度および高速イメージング環境において卓越した感度と画質を実現します。
CoaXPress CXP-6インターフェースを搭載し、精密マシンビジョンシステム、半導体検査、ディスプレイ検査、科学イメージングアプリケーションにおいて、安定した高帯域イメージ伝送を提供します。
主な特徴
✔ 4096 × 256 高解像度イメージング
詳細かつ正確なラインスキャン画像の取得を実現します。
✔ 256段TDI技術
低照度環境における感度と信号対雑音比（S/N比）を向上させます。
✔ 250kHz 超高ラインレート
高速検査および連続生産ラインのイメージングに対応します。
✔ 強化されたNIR感度
近赤外線イメージングおよび精密検査アプリケーション向けに最適化されています。
✔ CoaXPress CXP-6インターフェース
産業システムにおける信頼性の高い高速データ伝送を確保します。
✔ 産業グレードのコンパクト設計
連続運転および柔軟な統合に対応する安定した性能を発揮します。
仕様
| モデル |
iBt-250NX4KT256-M42
|
| TDI |
256-TDI
|
|
解像度
|
4096×256
|
|
ライン周波数
|
250kHz |
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ピクセルサイズ
|
5μm |
| 画像カラー | NIR |
| インターフェース | CXP-6 |
| レンズマウント | M42 |
推奨アプリケーション
- 半導体ウェハ検査
- OLED & ディスプレイ検査
- バッテリー & ソラーパネル検査
- ウェブ & 印刷検査
- 高速産業オートメーション
- 科学 & NIRイメージングシステム
発送予定
Payment & Security
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