Q1: What is the BTLM 2/3" Series used for?
A: The BTLM 2/3" bi-telecentric lens series is designed for high-precision machine vision, metrology, AOI, and semiconductor inspection applications requiring ultra-low distortion imaging.
Q2: What sensor size is this lens compatible with?
A: It is optimized for 2/3" industrial area scan cameras (Φ11mm image circle).
Q3: What is the magnification range of this series?
A: The BTLM 2/3" Series supports magnifications from 0.166X to 0.5X, suitable for both wide-field and precision inspection tasks.
Q4: What is the advantage of a bi-telecentric design?
A: A bi-telecentric lens maintains constant magnification and zero perspective error, ensuring highly accurate and repeatable measurements.
Q5: How accurate is this lens in terms of distortion?
A: The series achieves ultra-low distortion (<0.03%–<0.1%), making it ideal for precision metrology applications.
Q6: What is the difference between standard and “D” models?
A: “D” models include coaxial illumination compatibility, making them suitable for reflective or low-contrast surfaces.
Q7: What working distances are available?
A: Depending on the model, working distances range from 65 mm to 173 mm.
Q8: What industries commonly use this lens?
A: It is widely used in semiconductor inspection, electronics manufacturing, PCB inspection, AOI systems, and industrial automation.
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説明
製品説明
産業計測およびマシンビジョン向け高精度2/3インチバイテレセントリックレンズ
BTLM 2/3インチシリーズのバイテレセントリックレンズは、高精度なマシンビジョンおよび計測アプリケーションのために設計されており、視野全体にわたって視差誤差ゼロの極めて安定した撮像性能を提供します。
2/3インチの産業用エリアスキャンカメラ（Φ11mmセンサー対応）用に特化して設計されたこのシリーズは、0.166Xから0.5Xまでの複数の倍率オプションを提供し、広視野検査および精密計測タスクの両方に適しています。
超低歪み（<0.1% / <0.03%（モデルによる））、高テレセントリック性（<0.1°）、および160–260 lp/mmを超えるMTF性能により、BTLMシリーズは過酷な産業環境においても極めてシャープで再現性の高い撮像結果を確保します。
反射面向けの任意の同軸照明バージョン（Dモデル）が利用可能であり、手動アイリスオプションにより、複雑な検査条件下での柔軟な被写界深度の制御が可能です。
主な特徴
✔ 2/3インチセンサー（Φ11mm像円）向けに最適化
高解像度の産業用エリアスキャンカメラとの完璧な適合。
✔ 広い倍率範囲（0.166X–0.5X）
異なる検査視野に対応する柔軟な構成。
✔ 超高光学解像度（MTF >160–260 lp/mm）
精密計測のためのシャープな詳細の捕捉を確保。
✔ 超低歪み（<0.03%–<0.1%）
非常に正確な幾何学的計測を提供。
✔ 視差誤差ゼロ設計
安定した再現性の高い計測精度を確保。
✔ 任意の同軸照明バージョン（Dモデル）
反射面または低コントラスト面に適しています。
✔ 長い作業距離設計（65–173mm）
産業用検査システムへの柔軟な統合。
✔ 任意の手動アイリス（一部モデル）
被写界深度の最適化および画像チューニングを可能にします。
推奨アプリケーション
- 精密計測
- 半導体検査
- 電子機器製造
- PCB検査
- 自動光学検査（AOI）
- 寸法計測システム
- 産業品質管理
- 高精度マシンビジョンシステム
- 反射面検査（同軸モデル）
仕様
2/3インチ Cマウント テレセントリックレンズ
| モデル | 可変アイリス | 同軸 | 倍率 | 作業距離 (mm) | F/# | MTF30 (lp/mm) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| BTLM-0.5X-65-23 | いいえ | いいえ | 0.5X | 65±1 | 5.0 | >160 |
| BTLM-0.5X-65D-23 | いいえ | はい | 0.5X | 65±1 | 5.0 | >160 |
| BTLM-0.4X-85-23 | いいえ | いいえ | 0.4X | 85±2 | 4.5 | >205 |
| BTLM-0.4X-85D-23 | いいえ | はい | 0.4X | 85±2 | 4.5 | >205 |
| BTLM-0.166X-173-23 (IA) | はい | いいえ | 0.166X | 173±3 | 3.3 | >260 |
ご注意：上記の被写界深度（DOF）は、理想の絞り（例：F11での±763）における理論値です。実際のDOFまたはご要望のDOFについては、ご注文確定前に弊社の営業エンジニアにご確認ください。
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