産業用マシンビジョンおよび科学画像処理向けカスタマイズ可能OEM 短波長赤外線 SWIR ライト

ContrastechSKU: VT-LT3-LI1800IR1420
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光の色: SWIR[1420nm]
光の種類: ラインスキャンライト[1800x17mm]
価格:
販売価格$4,500.00

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説明

OEM SWIR Light – 製品説明

本 OEM SWIR Light(短波長赤外照明モジュール) は、1000–1700 nmの波長帯で動作する 1000–1700 nm高性能なSWIR光源であり、産業用および科学用イメージング用に設計されています。 InGaAsおよびSWIR CMOSカメラに対応し、人間の目では見えない詳細を可視化し、高度な検査と分析を可能にします。

当社のSWIR光源モジュールは OEMカスタマイズ に対応し、複数の産業用照明タイプで利用可能です: ライン/バーライト、リングライト、バックライト、同軸光など。 半導体および太陽電池の検査、食品および農業分析、マシンビジョン、科学用イメージングに適しており、低ノイズかつ高信頼性で均一かつ安定した照明を提供します。

主な特徴:

  • 1000–1700 nmのSWIR波長帯
  • 複数の産業用照明タイプ:ライン、リング、バックライト、同軸光など
  • OEMカスタマイズ可能:波長、出力、ビーム形状、サイズなど
  • 高い安定性、低ノイズ、産業グレードの耐久性

典型的なアプリケーション & 推奨パラメータ

1️⃣産業用マシンビジョン & 自動化

アプリケーション

  • プラスチック、フィルム、複合材料の識別
  • 包装の完全性および液体充填レベルの検査

SWIRの利点

  • 組成によって視覚的に類似した材料を区別
  • 透明および半透明物体の優れたイメージング

推奨パラメータ

  • 波長: 1050 nm / 1200 nm / 1550 nm
  • 光学構成: 同軸、暗視野、またはラインスキャン対応
  • 制御インターフェース: アナログ調光 / TTLデジタルトリガー
  • 動作温度: -20 °C ~ +50 °C

2️⃣半導体 & 太陽電池検査

アプリケーション

  • ウェハ検査
  • 太陽電池の微細クラックおよび表面下欠陥の検出

SWIRの利点

  • シリコンへの浸透性の向上
  • 内部構造および応力関連欠陥の可視性の向上

推奨パラメータ

  • 波長: 1300 nm / 1450 nm / 1550 nm
  • 出力電力: 高出力連続またはパルス動作
  • 照明均一性: ≥90%
  • ドライブモード: 定電流、外部トリガー対応
SWIRスペクトラム(近赤外(NIR)を超えた赤外光の領域で、通常約1000 nmから1700 nmと定義される)内で動作するこの照明光源は、人間の目や従来のカメラでは見えないコントラストや材料特性を解き明かします。

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