950-1800nm 1.1" C-Mount SWIR Coaxial IMX990 Objectifs télécentriques

ContrastechSKU: TLSW-0.5XD-H1.1
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Longueur d'onde: 950-1800nm 1.1" C-Mount
Distance focale: 0.5x F6.3 Coaxial
Prix:
Prix réduit$6,400.00

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Description

Description du produit

Objectif télécentrique SWIR haute performance pour l'inspection industrielle de précision

Les objectifs télécentriques SWIR de la série TLSW sont conçus pour les systèmes d'imagerie infrarouge à ondes courtes (SWIR) avancés, couvrant la plage spectrale de 950 à 1800 nm. Optimisés pour les capteurs Sony IMX990 et InGaAs de 1,1", ces objectifs offrent des performances exceptionnelles pour détecter les défauts et les différences de matériaux invisibles dans le spectre visible.

Grâce à la conception optique télécentrique, l'objectif assure une imagerie précise et sans distorsion pour les applications de mesure et d'inspection de précision. Disponible en grossissements 1,0X et 2,0X, l'objectif est doté d'un design d'iris réglable, permettant aux utilisateurs d'optimiser la profondeur de champ et le contraste de l'image en fonction des exigences d'inspection.

La série TLSW est disponible en configurations coaxiale et non coaxiale, ce qui la rend adaptable à une large gamme de systèmes de vision par ordinateur industrielle.

Caractéristiques principales

✔ Plage de transmission SWIR 950–1800 nm
Optimisé pour l'imagerie infrarouge à ondes courtes au-delà de la lumière visible.

✔ Compatible avec les capteurs Sony IMX990 / InGaAs 1,1"
Conçu pour les systèmes de vision par ordinateur SWIR à haute sensibilité.

✔ Conception optique télécentrique
Assure une imagerie de mesure précise et sans distorsion.

✔ Options de grossissement 1,0X / 2,0X
Configurations flexibles pour différentes exigences d'inspection.

✔ Iris réglable (modèles sélectionnés)
Permet l'optimisation de la profondeur de champ et le contrôle du contraste de l'image.

✔ Versions coaxiale / non coaxiale disponibles
Prend en charge l'inspection des surfaces réfléchissantes et non réfléchissantes.

Applications idéales

  • Inspection de plaques de semi-conducteurs
  • Analyse des matériaux en silicium
  • Inspection des composants électroniques
  • Détection de défauts au-delà du spectre visible
  • Métrologie de précision
  • Systèmes d'imagerie SWIR avancés
  • Recherche & Imagerie scientifique
  • Inspection par l'automatisation industrielle

Spécifications

Modèle
Coaxial
Gross.
WD
(mm)

F/#

Côté
objet NA
DOF
(mm)
TLSW-0.5XD-H1.1
Oui
0.5
116.4
6.3
0.040
2.02
TLSW-0.7XD-H1.1
Oui
0.7
116.0
6.4
0.055
1.05
TLSW-1.0XD-H1.1
Oui
1.0
110.0
7.0
0.071
0.56
TLSW-1.0X-H1.1
Non
1.0
110.0
7.0
0.071
0.56
TLSW-2.0XD-H1.1
Oui
2.0
110.2
11.5
0.087
0.23
TLSW-2.0X-H1.1
Non
2.0
110.2
11.5
0.087
0.23
TLSW-4.0XD-H1.1
Oui
4.0
 110.3
20.0
0.100
0.10

Téléchargement de l'objectif SWIR

Datasheet Download

Q1: What is the TLSW SWIR telecentric lens used for?
A: It is designed for SWIR machine vision, semiconductor inspection, material analysis, and precision metrology, especially where defects are not visible in the visible spectrum.

Q2: What wavelength range does this lens support?
A: The lens operates in the 950–1800nm shortwave infrared (SWIR) range, enabling advanced infrared imaging applications.

Q3: Which image sensors is this lens compatible with?
A: It is optimized for Sony IMX990 and 1.1" InGaAs SWIR sensors, commonly used in industrial infrared imaging systems.

Q4: What is the advantage of a telecentric SWIR lens?
A: It provides distortion-free imaging, stable magnification, and high measurement accuracy, which is critical for precision inspection.

Q5: What magnification options are available?
A: The lens is available in 1.0X and 2.0X magnifications, suitable for different inspection and measurement requirements.

Q6: Can the lens adjust depth of field?
A: Yes, selected models feature an adjustable iris design, allowing users to optimize depth of field and image contrast.

Q7: What is the difference between coaxial and non-coaxial versions?
A: The coaxial version is ideal for reflective surfaces like metal or polished wafers, while the non-coaxial version is suitable for general SWIR inspection.

Q8: What industries commonly use this lens?
A: It is widely used in semiconductor manufacturing, electronics inspection, material science, and advanced research imaging systems.

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