29MP Großformat F-Bajonett-Objektiv

ContrastechSKU: VT-LEMF3528MP29-0.1X
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Spezifikation: 35mm EFL 0.1x
Preis:
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Beschreibung

Dieses F/T-Bajonett-Objektiv ist für 4K-Zeilen-Scan- und Großformat-Industriekameras konzipiert und liefert hohe Auflösung, geringe Verzerrung und hervorragende Schärfe von Rand zu Rand. Für anspruchsvolle Inspektionsumgebungen entwickelt, bietet es eine stabile optische Leistung, präzise Abbildung von großformatigen Materialien und einen zuverlässigen Betrieb in kontinuierlichen Hochgeschwindigkeitsprozessen. Kompatibel mit Großformatsensoren bis zu 151 MP, stellt es eine genaue Wiedergabe für fortschrittliche Machine-Vision-Systeme sicher.

Anwendungen

Ideal für Bahn- und Oberflächeninspektion, Qualitätskontrolle in der Halbleiter- und Elektronikindustrie, Druckinspektion, Logistikscanning und Präzisionsmessung.

Bezeichnung EFL (mm) Standard-Vergr. (x) Bajonett
VT-LEMF3528MP29-0.1X 35 0.1x F
VT-LEMF3528MP29-0.03X 35 0.03x F
VT-LEMF3528MP29-0.057X 35 0.057x F
VT-LEMF4028MP29-0.1X 40 0.1x F
VT-LEMF5028MP29-0.1X 50 0.1x F
VT-LEMF5028MP29-0.06X 50 0.06x F
VT-LEMF5028MP29-0.062X 50 0.062x F
VT-LEMF6040MP29-0.167X 60 0.167x F
VT-LEMF8056MP29-0.3X 80 0.3x F
VT-LEMF9040MP29-0.05X 90 0.05x F

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