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Beschreibung
65MP Large Format Machine Vision Objektiv
Produktbeschreibung
Entwickelt für hochauflösende industrielle Bildgebung, ist dieses 65MP Large Format Machine Vision Objektiv für großformatige Flächenscan- und Zeilenscan-Kameras optimiert und liefert eine hervorragende Bildqualität sowie eine zuverlässige optische Leistung für anspruchsvolle Machine-Vision-Anwendungen.
Das Objektiv unterstützt Kamerauflösungen von 29MP bis 65MP und Pixelgrößen ab ca. 3,2 μm und ist so konzipiert, dass es hochauflösende Sensoren abdeckt, während es eine hohe Bildschärfe und geringe Verzerrung beibehält. Mit einem großen Bildkreis und mehreren Brennweitenoptionen bietet es flexible Lösungen für Präzisionsinspektionssysteme, die ein weites Sichtfeld und eine hohe optische Leistung erfordern.
Die Objektivserie bietet verschiedene F-, T-, M58- und M72-Bajonette, was sie für verschiedene Industriekameras und Bildgebungsplattformen geeignet macht. Je nach Modell liegt der Vergrößerungsbereich zwischen ca. 0–0,2X und 0,15–1,0X, was Flexibilität für sowohl großflächige Bildgebung als auch detaillierte Nahinspektion bietet.
Hauptmerkmale
- 65MP hochauflösende optische Leistung
- Entwickelt für großformatige Flächenscan- und Zeilenscan-Kameras
- Unterstützt hochauflösende Sensoren von 29MP bis 65MP
- Geeignet für Pixelgrößen ab ca. 3,2 μm
- Großer Bildkreis für großformatige Sensoren
- Geringe optische Verzerrung für präzise Bildgebung
- Mehrere Brennweiten von 25mm bis 80mm
- Verschiedene Vergrößerungsbereiche für unterschiedliche Inspektionsanforderungen
- Verfügbar mit F-, T-, M58- und M72-Bajonetten
- Einstellbare Blende für flexible Licht- und Schärfentiefenkontrolle
- Ideal für hochpräzise industrielle Machine-Vision-Systeme
Produktanwendungen
Dieses Large-Format-Machine-Vision-Objektiv ist für eine breite Palette hochauflösender Inspektionsanwendungen geeignet, einschließlich:
- Inspektion von LCD-, LED- und OLED-Displays
- Inspektion von Smartphone-Bildschirmen und Gläsern
- AOI- und PCB-Inspektion
- Inspektion von elektronischen Bauteilen
- Inspektion von Solarpanels und Solarzellen
- Druck- und Oberflächeninspektion
- Präzisionsmessung und Defekterkennung
- Hochauflösende industrielle Bildgebung
- Automatisierte Machine-Vision-Inspektion
Produktspezifikationen
| Modell |
EFL(mm)
|
Format
|
WD(mm)
|
FFL (mm)
|
Bajonett
|
|---|---|---|---|---|---|
|
VT-LEN58-2540MP65
|
25±5%
|
Ø46
|
100-∞
|
12/11.48
|
M58×P0.75
|
|
VT-LEN72-2540MP65
|
25±5%
|
Ø46
|
100-∞
|
12
|
M72×P0.75
|
|
VT-LEN58-3540MP65
|
35±5%
|
Ø42
|
150-∞
|
12/11.48
|
M58×P0.75
|
|
VT-LEN72-3540MP65
|
35±5%
|
Ø42
|
150-∞
|
12
|
M72×P0.75
|
|
VT-LEM42-5036MP65
|
50±5%
|
Ø32
|
80-2500
|
12/17.5
|
M42×P1.0
|
|
VT-LEN58-5036MP65
|
50±5% |
Ø46
|
80-2500
|
12/11.48 | M58×P0.75 |
|
VT-LEN72-5036MP65
|
50±5% |
Ø46
|
80-2500
|
12 | M72×P0.75 |
|
VT-LEN58-8036MP65
|
80±5% |
Ø46
|
235-2000
|
12/11.48 | M58×P0.75 |
|
VT-LEN72-8036MP65
|
80±5% |
Ø46
|
235-2000
|
12 | M72×P0.75 |
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