Q1: What is the TLSW SWIR telecentric lens used for?
A: It is designed for SWIR machine vision, semiconductor inspection, material analysis, and precision metrology, especially where defects are not visible in the visible spectrum.
Q2: What wavelength range does this lens support?
A: The lens operates in the 950–1800nm shortwave infrared (SWIR) range, enabling advanced infrared imaging applications.
Q3: Which image sensors is this lens compatible with?
A: It is optimized for Sony IMX990 and 1.1" InGaAs SWIR sensors, commonly used in industrial infrared imaging systems.
Q4: What is the advantage of a telecentric SWIR lens?
A: It provides distortion-free imaging, stable magnification, and high measurement accuracy, which is critical for precision inspection.
Q5: What magnification options are available?
A: The lens is available in 1.0X and 2.0X magnifications, suitable for different inspection and measurement requirements.
Q6: Can the lens adjust depth of field?
A: Yes, selected models feature an adjustable iris design, allowing users to optimize depth of field and image contrast.
Q7: What is the difference between coaxial and non-coaxial versions?
A: The coaxial version is ideal for reflective surfaces like metal or polished wafers, while the non-coaxial version is suitable for general SWIR inspection.
Q8: What industries commonly use this lens?
A: It is widely used in semiconductor manufacturing, electronics inspection, material science, and advanced research imaging systems.
Estimated Delivery Time
Ship To Detecting...
Delivery: -
Description
وصف المنتج
عدسة تيلسنتريك SWIR عالية الأداء للفحص الصناعي الدقيق
صُممت عدسات TLSW Series SWIR Telecentric لأنظمة التصوير بالأشعة تحت الحمراء قصيرة الموجة (SWIR) المتقدمة، وتدعم النطاق الطيفي 950–1800nm. مُحسّنة لمستشعرات Sony IMX990 و 1.1" InGaAs، توفر هذه العدسات أداءً استثنائيًا للكشف عن العيوب واختلافات المواد التي لا تُرى في الطيف المرئي.
بفضل التصميم البصري التيلسنتريك، تضمن العدسة تصويرًا دقيقًا وخاليًا من التشوهات لتطبيقات القياس والفحص الدقيق. متوفرة بتكبير 1.0X و 2.0X، تتميز العدسة بتصميم قزحية قابل للتعديل، مما يتيح للمستخدمين تحسين عمق الميدان وتباين الصورة بناءً على متطلبات الفحص.
تتوفر سلسلة TLSW في تكوينات محورية وغير محورية، مما يجعلها قابلة للتكيف مع مجموعة واسعة من أنظمة الرؤية الآلية الصناعية.
الميزات الرئيسية
✔ نطاق نقل SWIR من 950–1800nm
مُحسّن للتصوير بالأشعة تحت الحمراء قصيرة الموجة خارج نطاق الضوء المرئي.
✔ متوافق مع مستشعرات Sony IMX990 / 1.1" InGaAs
مصمم لأنظمة الرؤية الآلية SWIR عالية الحساسية.
✔ تصميم بصري تيلسنتريك
يضمن تصوير قياس دقيق وخالي من التشوهات.
✔ خيارات تكبير 1.0X / 2.0X
تكوينات مرنة لمتطلبات فحص مختلفة.
✔ قزحية قابلة للتعديل (نماذج محددة)
يتيح تحسين عمق الميدان والتحكم في تباين الصورة.
✔ متوفر بنسخ محورية / غير محورية
يدعم فحص الأسطح العاكسة وغير العاكسة.
التطبيقات المثالية
- فحص رقاقات أشباه الموصلات
- تحليل مواد السيليكون
- فحص المكونات الإلكترونية
- كشف العيوب خارج الطيف المرئي
- القياس الدقيق
- أنظمة التصوير SWIR المتقدمة
- البحث & التصوير العلمي
- الفحص في الأتمتة الصناعية
المواصفات
| النموذج |
محوري
|
التكبير
|
WD
(mm)
|
F/#
|
NA الجانب
NA الجانب
|
DOF
(mm)
|
|---|---|---|---|---|---|---|
|
TLSW-0.5XD-H1.1
|
نعم
|
0.5
|
116.4
|
6.3
|
0.040
|
2.02
|
|
TLSW-0.7XD-H1.1
|
نعم
|
0.7
|
116.0
|
6.4
|
0.055
|
1.05
|
|
TLSW-1.0XD-H1.1
|
نعم
|
1.0
|
110.0
|
7.0
|
0.071
|
0.56
|
|
TLSW-1.0X-H1.1
|
لا
|
1.0
|
110.0
|
7.0
|
0.071
|
0.56
|
|
TLSW-2.0XD-H1.1
|
نعم
|
2.0
|
110.2
|
11.5
|
0.087
|
0.23
|
|
TLSW-2.0X-H1.1
|
لا
|
2.0
|
110.2
|
11.5
|
0.087
|
0.23
|
|
TLSW-4.0XD-H1.1
|
نعم
|
4.0
|
110.3
|
20.0
|
0.100
|
0.10
|
تنزيل عدسة SWIR
Estimate shipping
Payment & Security
Your payment information is processed securely. We do not store credit card details nor have access to your credit card information.