Q1: What is the TLVS-H1.1 series used for?
A: The TLVS-H1.1 is a Visible–SWIR telecentric lens series designed for semiconductor inspection, IC imaging, silicon transmission analysis, and multi-spectral machine vision applications.
Q2: What is focus shift correction in this lens?
A: Focus shift correction allows the lens to maintain consistent focus across 400–1200nm wavelengths, eliminating the need to refocus when switching between visible and SWIR imaging.
Q3: Can this lens capture internal structures through silicon?
A: Yes. At around 1100nm transmission wavelength, the lens can image internal IC circuits and structures through silicon wafers.
Q4: What magnification options are available?
A: The series supports 0.7X, 1.0X, 2.0X, and 4.0X magnifications, suitable for different inspection and measurement requirements.
Q5: What is the advantage of a telecentric design?
A: Telecentric optics ensure low distortion, stable magnification, and high measurement accuracy, which is essential for precision inspection.
Q6: Does the lens support both coaxial and non-coaxial setups?
A: Yes, the TLVS-H1.1 series is available in coaxial and non-coaxial versions, depending on the application environment.
Q7: What industries commonly use this lens?
A: It is widely used in semiconductor manufacturing, IC inspection, electronics production, precision metrology, and advanced machine vision systems.
Q8: What is the wavelength range of this lens?
A: The lens operates across a wide 400–1200nm spectral range, covering both visible and SWIR imaging.
Estimated Delivery Time
Ship To Detecting...
Delivery: -
Description
คำอธิบายผลิตภัณฑ์
เลนส์เทเลเซ็นทริกช่วง Visible–SWIR พร้อมการแก้ไขการเลื่อนโฟกัสสำหรับการถ่ายภาพความละเอียดสูง
ซีรีส์ TLVS-H1.1 เป็นเลนส์เทเลเซ็นทริกช่วง Visible–SWIR ประสิทธิภาพสูง ออกแบบมาเพื่อใช้งานในแอปพลิเคชันระบบวิทัศน์เครื่องจักรขั้นสูงที่ต้องการการถ่ายภาพในช่วงความยาวคลื่นกว้างตั้งแต่ 400 ถึง 1200nm เทคโนโลยีการแก้ไขการเลื่อนโฟกัสที่เป็นเอกลักษณ์ช่วยให้มั่นใจว่าภาพจะคมชัดสม่ำเสมอตั้งแต่แสงที่มองเห็นได้จนถึงอินฟราเรดคลื่นสั้น (SWIR) โดยไม่ต้องปรับโฟกัสใหม่ระหว่างการตรวจสอบหลายสเปกตรัม
ซีรีส์นี้ช่วยให้ผู้ใช้สามารถถ่ายภาพทั้งแสงที่มองเห็นได้และภาพ SWIR ที่ส่งผ่านได้ด้วยความเสถียรสูง ทำให้สามารถตรวจจับโครงสร้างภายในและข้อบกพร่องที่ไม่สามารถมองเห็นได้ภายใต้การถ่ายภาพด้วยแสงที่มองเห็นได้มาตรฐานทั่วไป มีประสิทธิภาพเป็นพิเศษสำหรับการตรวจสอบเวเฟอร์ซิลิคอนและการถ่ายภาพวงจรภายใน IC ที่ความยาวคลื่นการส่งผ่านประมาณ 1100nm
มีให้เลือกกำลังขยาย 0.7X, 1.0X, 2.0X และ 4.0X ซีรีส์ TLVS-H1.1 รองรับทั้งการติดตั้งแบบแกนร่วม (coaxial) และแบบไม่แกนร่วม (non-coaxial) ทำให้สามารถบูรณาการได้อย่างยืดหยุ่นสำหรับระบบตรวจสอบอุตสาหกรรมที่แตกต่างกัน
คุณสมบัติหลัก
✔ การถ่ายภาพช่วงกว้าง Visible–SWIR (400–1200nm)
รองรับการใช้งานถ่ายภาพอย่างต่อเนื่องจากแสงที่มองเห็นได้จนถึงสเปกตรัม SWIR
✔ เทคโนโลยีการแก้ไขการเลื่อนโฟกัส
รักษาความคมชัดของโฟกัสข้ามความยาวคลื่นหลายช่วงโดยไม่ต้องปรับแต่ง
✔ การออกแบบทางแสงแบบเทเลเซ็นทริก
มั่นใจว่าการถ่ายภาพไม่มีภาพบิดเบือนและมีความแม่นยำในการวัดสูง
✔ ตัวเลือกกำลังขยายหลายระดับ (0.7X–4.0X)
การกำหนดค่าที่ยืดหยุ่นสำหรับแอปพลิเคชันระบบวิทัศน์เครื่องจักรที่หลากหลาย
✔ การถ่ายภาพการส่งผ่านซิลิคอน IC (~1100nm)
ช่วยให้สามารถตรวจสอบวงจรภายในผ่านเวเฟอร์ซิลิคอนได้
✔ มีรุ่นแกนร่วม / ไม่แกนร่วมให้เลือก
เหมาะสมสำหรับระบบตรวจสอบแบบสะท้อนแสงและแบบส่งผ่านแสง
แอปพลิเคชันที่เหมาะสม
- การตรวจสอบเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์
- การถ่ายภาพวงจรภายใน IC
- การตรวจสอบการส่งผ่านซิลิคอน
- การผลิตอิเล็กทรอนิกส์
- การตรวจจับข้อบกพร่องข้ามสเปกตรัม
- การวัดความแม่นยำสูง
- ระบบวิทัศน์เครื่องจักรขั้นสูง
- การถ่ายภาพอุตสาหกรรมหลายสเปกตรัม
ข้อมูลจำเพาะ
เลนส์เทเลเซ็นทริก C-Mount ช่วง VIS-SWIR 400-1200nm
| รุ่น | กำลังขยาย | ระยะทำงาน (WD) | วงกลมภาพ | แบบแกนร่วม |
|---|---|---|---|---|
| TLVS-0.7XD-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | ใช่ |
| TLVS-0.7X-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | ไม่ใช่ |
| TLVS-1.0XD-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | ใช่ |
| TLVS-1.0X-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | ไม่ใช่ |
| TLVS-2.0XD-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | ใช่ |
| TLVS-2.0X-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | ไม่ใช่ |
| TLVS-4.0XD-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | ใช่ |
| TLVS-4.0X-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | ไม่ใช่ |
ดาวน์โหลดข้อมูลเลนส์ SWIR
Estimate shipping
Payment & Security
Your payment information is processed securely. We do not store credit card details nor have access to your credit card information.