1. What is the iBt-UV9KT used for?
The iBt-UV9KT is designed for silicon wafer inspection, semiconductor surface inspection, wafer defect detection, and high-speed automated imaging.
2. Why use UV imaging for silicon wafer inspection?
UV imaging can provide additional material and surface information that may not be easily captured with visible-light imaging, making it useful for specialized wafer inspection applications.
3. What is the resolution of the iBt-UV9KT?
The camera provides 9072 × 256 resolution with 5 μm pixels, supporting detailed line scan imaging for silicon wafer inspection.
4. How does 256-TDI improve wafer inspection?
The 256-TDI structure accumulates optical signals across multiple stages during scanning, increasing effective sensitivity and helping capture subtle features during high-speed wafer inspection.
5. Is the iBt-UV9KT suitable for automated wafer inspection systems?
Yes. Its high line rate, 9K resolution, CXP12 interface, and TDI architecture make it suitable for integration into automated semiconductor and wafer inspection equipment.
6. What optical configuration can be used with the iBt-UV9KT?
The camera uses an M72 lens mount and can be integrated with suitable UV optics selected according to the wafer size, field of view, working distance, and inspection requirements.
Estimated Delivery Time
Ship To Detecting...
Delivery: -
Description
คำอธิบายผลิตภัณฑ์
กล้องสแกนแบบเส้น TDI NIR ความเร็วสูงสำหรับการตรวจสอบอุตสาหกรรมที่มีความแม่นยำ
iBt-250NX4KT256-M42 เป็นกล้องสแกนแบบเส้น TDI NIR ประสิทธิภาพสูงที่ออกแบบมาสำหรับงานตรวจสอบอุตสาหกรรมความเร็วสูงที่ต้องการความเข้มงวด ด้วยความละเอียด 4096 × 256 เทคโนโลยี TDI ขั้นสูง 256 ขั้น และอัตราเส้นสูงสุด 150kHz กล้องนี้ให้ค่าความไวและคุณภาพภาพที่โดดเด่นในสภาพแวดล้อมการถ่ายภาพแสงน้อยและความเร็วสูง
มาพร้อมอินเทอร์เฟซ CoaXPress CXP-6 กล้องนี้ให้การส่งภาพแบนด์วิดท์สูงที่เสถียรสำหรับระบบวิทัศน์เครื่องจักรที่มีความแม่นยำ การตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์ การตรวจสอบจอแสดงผล และการถ่ายภาพทางวิทยาศาสตร์
คุณสมบัติหลัก
✔ การถ่ายภาพความละเอียดสูง 4096 × 256
ให้การจับภาพสแกนแบบเส้นที่ละเอียดและแม่นยำ
✔ เทคโนโลยี TDI 256 ขั้น
เพิ่มความไวและประสิทธิภาพสัญญาณต่อเสียงรบกวนในสภาพแวดล้อมแสงน้อย
✔ อัตราเส้นสูงมาก 250kHz
รองรับงานตรวจสอบความเร็วสูงและการถ่ายภาพสายการผลิตต่อเนื่อง
✔ ความไว NIR ที่ปรับปรุงแล้ว
ปรับให้เหมาะสมสำหรับการถ่ายภาพ Near Infrared และการตรวจสอบที่มีความแม่นยำ
✔ อินเทอร์เฟซ CoaXPress CXP-6
รับประกันการส่งข้อมูลความเร็วสูงที่เชื่อถือได้สำหรับระบบอุตสาหกรรม
✔ การออกแบบกะทัดรัดระดับอุตสาหกรรม
ประสิทธิภาพที่เสถียรสำหรับการใช้งานต่อเนื่องและการบูรณาการที่ยืดหยุ่น
สเปค
| รุ่น |
iBt-250NX4KT256-M42
|
| TDI |
256-TDI
|
|
ความละเอียด
|
4096×256
|
|
ความถี่เส้น
|
250kHz |
|
ขนาดพิกเซล
|
5μm |
| สีภาพ | NIR |
| อินเทอร์เฟซ | CXP-6 |
| ฐานเลนส์ | M42 |
การใช้งานที่เหมาะสม
- การตรวจสอบเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์
- OLED & การตรวจสอบจอแสดงผล
- แบตเตอรี่ & การตรวจสอบแผงโซลาร์เซลล์
- Web & การตรวจสอบการพิมพ์
- ระบบอัตโนมัติอุตสาหกรรมความเร็วสูง
- ทางวิทยาศาสตร์ & ระบบการถ่ายภาพ NIR
Estimate shipping
Payment & Security
Your payment information is processed securely. We do not store credit card details nor have access to your credit card information.