Q1: What is the TLSW SWIR telecentric lens used for?
A: It is designed for SWIR machine vision, semiconductor inspection, material analysis, and precision metrology, especially where defects are not visible in the visible spectrum.
Q2: What wavelength range does this lens support?
A: The lens operates in the 950–1800nm shortwave infrared (SWIR) range, enabling advanced infrared imaging applications.
Q3: Which image sensors is this lens compatible with?
A: It is optimized for Sony IMX990 and 1.1" InGaAs SWIR sensors, commonly used in industrial infrared imaging systems.
Q4: What is the advantage of a telecentric SWIR lens?
A: It provides distortion-free imaging, stable magnification, and high measurement accuracy, which is critical for precision inspection.
Q5: What magnification options are available?
A: The lens is available in 1.0X and 2.0X magnifications, suitable for different inspection and measurement requirements.
Q6: Can the lens adjust depth of field?
A: Yes, selected models feature an adjustable iris design, allowing users to optimize depth of field and image contrast.
Q7: What is the difference between coaxial and non-coaxial versions?
A: The coaxial version is ideal for reflective surfaces like metal or polished wafers, while the non-coaxial version is suitable for general SWIR inspection.
Q8: What industries commonly use this lens?
A: It is widely used in semiconductor manufacturing, electronics inspection, material science, and advanced research imaging systems.
Estimated Delivery Time
Ship To Detecting...
Delivery: -
Description
คำอธิบายผลิตภัณฑ์
เลนส์เทเลเซ็นทริก SWIR ประสิทธิภาพสูงสำหรับการตรวจสอบอุตสาหกรรมที่มีความแม่นยำ
เลนส์เทเลเซ็นทริก SWIR ซีรีส์ TLSW ออกแบบมาสำหรับระบบถ่ายภาพอินฟราเรดคลื่นสั้น (SWIR) ขั้นสูง รองรับช่วงสเปกตรัม 950–1800nm โดยได้รับการปรับให้เหมาะสมสำหรับเซ็นเซอร์ Sony IMX990 และ InGaAs ขนาด 1.1" เลนส์เหล่านี้มอบประสิทธิภาพที่โดดเด่นในการตรวจจับข้อบกพร่องและความแตกต่างของวัสดุที่ไม่สามารถมองเห็นได้ในสเปกตรัมที่มองเห็นได้
ด้วยโครงสร้างแสงแบบเทเลเซ็นทริก เลนส์ช่วยให้มั่นใจในการถ่ายภาพที่แม่นยำและปราศจาก искажение สำหรับแอปพลิเคชันการวัดและการตรวจสอบที่มีความแม่นยำ มีให้เลือกในการขยาย 1.0X และ 2.0X เลนส์มีโครงสร้างไอริสที่ปรับได้ ซึ่งช่วยให้ผู้ใช้สามารถปรับความลึกของโฟกัสและความคมชัดของภาพตามความต้องการในการตรวจสอบ
ซีรีส์ TLSW มีให้เลือกทั้งโครงสร้างแบบโคแอกเชียลและแบบไม่โคแอกเชียล ทำให้สามารถปรับใช้กับระบบวิทัศน์เครื่องจักรอุตสาหกรรมที่หลากหลาย
คุณสมบัติหลัก
✔ ช่วงการส่งผ่าน SWIR 950–1800nm
ปรับให้เหมาะสมสำหรับการถ่ายภาพอินฟราเรดคลื่นสั้นที่เกินกว่าแสงที่มองเห็นได้
✔ เข้ากันได้กับเซ็นเซอร์ Sony IMX990 / InGaAs ขนาด 1.1"
ออกแบบมาสำหรับระบบวิทัศน์เครื่องจักร SWIR ที่มีความไวสูง
✔ โครงสร้างแสงแบบเทเลเซ็นทริก
มั่นใจในการถ่ายภาพการวัดที่แม่นยำสูงและปราศจาก искажение
✔ ตัวเลือกการขยาย 1.0X / 2.0X
การกำหนดค่าที่ยืดหยุ่นสำหรับความต้องการในการตรวจสอบที่แตกต่างกัน
✔ ไอริสที่ปรับได้ (รุ่นที่เลือก)
ช่วยให้สามารถปรับความลึกของโฟกัสและควบคุมความคมชัดของภาพได้
✔ มีเวอร์ชันแบบโคแอกเชียล / ไม่โคแอกเชียล
รองรับการตรวจสอบพื้นผิวแบบสะท้อนแสงและไม่สะท้อนแสง
แอปพลิเคชันที่เหมาะสม
- การตรวจสอบเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์
- การวิเคราะห์วัสดุซิลิคอน
- การตรวจสอบชิ้นส่วนอิเล็กทรอนิกส์
- การตรวจจับข้อบกพร่องที่เกินกว่าสเปกตรัมที่มองเห็นได้
- การวัดความแม่นยำ
- ระบบถ่ายภาพ SWIR ขั้นสูง
- การวิจัย & การถ่ายภาพทางวิทยาศาสตร์
- การตรวจสอบระบบอัตโนมัติในอุตสาหกรรม
สเปค
| โมเดล |
โคแอกเชียล
|
Mag.
|
WD
(mm)
|
F/#
|
Object
side NA
|
DOF
(mm)
|
|---|---|---|---|---|---|---|
|
TLSW-0.5XD-H1.1
|
ใช่
|
0.5
|
116.4
|
6.3
|
0.040
|
2.02
|
|
TLSW-0.7XD-H1.1
|
ใช่
|
0.7
|
116.0
|
6.4
|
0.055
|
1.05
|
|
TLSW-1.0XD-H1.1
|
ใช่
|
1.0
|
110.0
|
7.0
|
0.071
|
0.56
|
|
TLSW-1.0X-H1.1
|
ไม่
|
1.0
|
110.0
|
7.0
|
0.071
|
0.56
|
|
TLSW-2.0XD-H1.1
|
ใช่
|
2.0
|
110.2
|
11.5
|
0.087
|
0.23
|
|
TLSW-2.0X-H1.1
|
ไม่
|
2.0
|
110.2
|
11.5
|
0.087
|
0.23
|
|
TLSW-4.0XD-H1.1
|
ใช่
|
4.0
|
110.3
|
20.0
|
0.100
|
0.10
|
ดาวน์โหลดเลนส์ SWIR
Estimate shipping
Payment & Security
Your payment information is processed securely. We do not store credit card details nor have access to your credit card information.