Q1: What is the TLVS-H1.1 series used for?
A: The TLVS-H1.1 is a Visible–SWIR telecentric lens series designed for semiconductor inspection, IC imaging, silicon transmission analysis, and multi-spectral machine vision applications.
Q2: What is focus shift correction in this lens?
A: Focus shift correction allows the lens to maintain consistent focus across 400–1200nm wavelengths, eliminating the need to refocus when switching between visible and SWIR imaging.
Q3: Can this lens capture internal structures through silicon?
A: Yes. At around 1100nm transmission wavelength, the lens can image internal IC circuits and structures through silicon wafers.
Q4: What magnification options are available?
A: The series supports 0.7X, 1.0X, 2.0X, and 4.0X magnifications, suitable for different inspection and measurement requirements.
Q5: What is the advantage of a telecentric design?
A: Telecentric optics ensure low distortion, stable magnification, and high measurement accuracy, which is essential for precision inspection.
Q6: Does the lens support both coaxial and non-coaxial setups?
A: Yes, the TLVS-H1.1 series is available in coaxial and non-coaxial versions, depending on the application environment.
Q7: What industries commonly use this lens?
A: It is widely used in semiconductor manufacturing, IC inspection, electronics production, precision metrology, and advanced machine vision systems.
Q8: What is the wavelength range of this lens?
A: The lens operates across a wide 400–1200nm spectral range, covering both visible and SWIR imaging.
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Description
Descrição do Produto
Lente Telecêntrica Visível–SWIR com Correção de Deslocamento de Foco para Imagem de Precisão
A Série TLVS-H1.1 é uma lente telecêntrica Visível–SWIR de alto desempenho, concebida para aplicações avançadas de visão máquina que exigem imagem ao longo de uma ampla faixa de comprimentos de onda, de 400 a 1200nm. A sua tecnologia única de correção de deslocamento de foco garante um foco de imagem consistente, desde a luz visível até ao infravermelho de curta onda (SWIR), eliminando a necessidade de refocalização durante a inspeção multiespectral.
Esta série permite aos utilizadores captar imagens visíveis e SWIR transmitidas com alta estabilidade, permitindo a deteção de estruturas internas e defeitos que são invisíveis sob a imagem padrão de luz visível. É particularmente eficaz para a inspeção de wafers de silício e a imagem de circuitos internos de ICs no comprimento de onda de transmissão de ~1100nm.
Disponível em ampliações de 0.7X, 1.0X, 2.0X e 4.0X, a série TLVS-H1.1 suporta tanto configurações coaxiais como não coaxiais, proporcionando uma integração flexível para diferentes sistemas de inspeção industrial.
Principais Características
✔ Imagem de Banda Larga Visível–SWIR (400–1200nm)
Suporta imagem contínua desde a luz visível até ao espetro SWIR.
✔ Tecnologia de Correção de Deslocamento de Foco
Mantém o foco nítido através de múltiplos comprimentos de onda sem ajuste.
✔ Design Óptico Telecêntrico
Garante imagem sem distorção e alta precisão de medição.
✔ Opções de Multi-Ampliação (0.7X–4.0X)
Configurações flexíveis para diversas aplicações de visão máquina.
✔ Imagem de Transmissão de Silício de IC (~1100nm)
Permite a inspeção de circuitos internos através de wafers de silício.
✔ Versões Coaxiais / Não Coaxiais Disponíveis
Apropriado para sistemas de inspeção reflexiva e transmissiva.
Aplicações Ideais
- Inspeção de Wafers de Semicondutores
- Imagem de Circuitos Internos de IC
- Inspeção de Transmissão de Silício
- Fabricação de Eletrónica
- Deteção de Defeitos Através de Espetros
- Metrologia de Precisão
- Sistemas Avançados de Visão Máquina
- Imagem Industrial Multiespectral
Especificações
Lente Telecêntrica VIS-SWIR 400-1200nm Montagem C
| Modelo | Ampl. | WD | Círculo de Imagem | Coaxial |
|---|---|---|---|---|
| TLVS-0.7XD-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | Sim |
| TLVS-0.7X-H1.1 | 0.7X | 110 mm | Φ20.5 mm | Não |
| TLVS-1.0XD-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | Sim |
| TLVS-1.0X-H1.1 | 1.0X | 110 mm | Φ24 mm | Não |
| TLVS-2.0XD-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | Sim |
| TLVS-2.0X-H1.1 | 2.0X | 110 mm | Φ24 mm | Não |
| TLVS-4.0XD-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | Sim |
| TLVS-4.0X-H1.1 | 4.0X | 110 mm | Φ20.5 mm | Não |
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