Q1: What is the TLSW SWIR telecentric lens used for?
A: It is designed for SWIR machine vision, semiconductor inspection, material analysis, and precision metrology, especially where defects are not visible in the visible spectrum.
Q2: What wavelength range does this lens support?
A: The lens operates in the 950–1800nm shortwave infrared (SWIR) range, enabling advanced infrared imaging applications.
Q3: Which image sensors is this lens compatible with?
A: It is optimized for Sony IMX990 and 1.1" InGaAs SWIR sensors, commonly used in industrial infrared imaging systems.
Q4: What is the advantage of a telecentric SWIR lens?
A: It provides distortion-free imaging, stable magnification, and high measurement accuracy, which is critical for precision inspection.
Q5: What magnification options are available?
A: The lens is available in 1.0X and 2.0X magnifications, suitable for different inspection and measurement requirements.
Q6: Can the lens adjust depth of field?
A: Yes, selected models feature an adjustable iris design, allowing users to optimize depth of field and image contrast.
Q7: What is the difference between coaxial and non-coaxial versions?
A: The coaxial version is ideal for reflective surfaces like metal or polished wafers, while the non-coaxial version is suitable for general SWIR inspection.
Q8: What industries commonly use this lens?
A: It is widely used in semiconductor manufacturing, electronics inspection, material science, and advanced research imaging systems.
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Description
Descrição do Produto
Lente Telecêntrica SWIR de Alto Desempenho para Inspeção Industrial de Precisão
As Lentes Telecêntricas SWIR da Série TLSW são concebidas para sistemas avançados de imagem de infravermelho de onda curta (SWIR), suportando o intervalo espectral de 950–1800nm. Otimizadas para sensores Sony IMX990 e InGaAs de 1.1", estas lentes oferecem desempenho excecional na deteção de defeitos e diferenças de materiais que são invisíveis no espetro visível.
Com design ótico telecêntrico, a lente garante uma imagem precisa e sem distorções para aplicações de medição e inspeção de precisão. Disponível em ampliações de 1.0X e 2.0X, a lente possui um design de íris ajustável, permitindo aos utilizadores otimizar a profundidade de campo e o contraste da imagem com base nos requisitos de inspeção.
A série TLSW está disponível em configurações coaxiais e não coaxiais, tornando-a adaptável a uma ampla gama de sistemas de visão industrial.
Principais Características
✔ Faixa de Transmissão SWIR de 950–1800nm
Otimizado para imagem de infravermelho de onda curta além da luz visível.
✔ Compatível com Sensores Sony IMX990 / InGaAs de 1.1"
Concebido para sistemas de visão industrial SWIR de alta sensibilidade.
✔ Design Ótico Telecêntrico
Garante imagem de medição de alta precisão e sem distorções.
✔ Opções de Ampliação 1.0X / 2.0X
Configurações flexíveis para diferentes requisitos de inspeção.
✔ Íris Ajustável (Modelos Selecionados)
Permite a otimização da profundidade de campo e o controlo do contraste da imagem.
✔ Versões Coaxiais / Não Coaxiais Disponíveis
Suporta a inspeção de superfícies reflexivas e não reflexivas.
Aplicações Ideais
- Inspeção de Wafers de Semicondutores
- Análise de Material de Silício
- Inspeção de Componentes Eletrónicos
- Deteção de Defeitos Além do Espetro Visível
- Metrologia de Precisão
- Sistemas Avançados de Imagem SWIR
- Investigação & Imagem Científica
- Inspeção de Automação Industrial
Especificações
| Modelo |
Coaxial
|
Ampl.
|
WD
(mm)
|
F/#
|
NA do
lado do objeto
|
DOF
(mm)
|
|---|---|---|---|---|---|---|
|
TLSW-0.5XD-H1.1
|
Sim
|
0.5
|
116.4
|
6.3
|
0.040
|
2.02
|
|
TLSW-0.7XD-H1.1
|
Sim
|
0.7
|
116.0
|
6.4
|
0.055
|
1.05
|
|
TLSW-1.0XD-H1.1
|
Sim
|
1.0
|
110.0
|
7.0
|
0.071
|
0.56
|
|
TLSW-1.0X-H1.1
|
Não
|
1.0
|
110.0
|
7.0
|
0.071
|
0.56
|
|
TLSW-2.0XD-H1.1
|
Sim
|
2.0
|
110.2
|
11.5
|
0.087
|
0.23
|
|
TLSW-2.0X-H1.1
|
Não
|
2.0
|
110.2
|
11.5
|
0.087
|
0.23
|
|
TLSW-4.0XD-H1.1
|
Sim
|
4.0
|
110.3
|
20.0
|
0.100
|
0.10
|
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