SWIR 라인 스캔 카메라: 왜 산업 검사에 SWIR를 사용해야 하는가?
가시광선만으로는 충분하지 않을 때, SWIR 라인 스캔 이미징은 산업 생산 라인에서 연속적으로 이동하는 재료를 보고 검사하는 또 다른 방법을 제공합니다.
현대 머신 비전에서 많은 검사 과제는 단순히 형태, 색상 또는 표면 결함을 감지하는 것이 더 이상 아닙니다. 진정한 도전은 종종 다음과 같습니다:
바로 여기서 단파장 적외선(SWIR) 이미징이 가치를 발휘합니다. 라인 스캔 기술과 결합하여 SWIR는 연속적으로 이동하는 재료, 고속 생산, 분류, 웹 검사 및 재료 분석을 위한 강력한 솔루션을 제공합니다.
가시광선 대신 SWIR를 사용하는 이유
기존 RGB 카메라는 색상, 형태, 질감, 표면 외관 및 기하학적 결함 감지에 탁월합니다. 그러나 일부 재료는 가시광선에서 거의 동일해 보이지만 SWIR 영역에서 매우 다른 반응을 보일 수 있습니다.
가시광선 / RGB 이미징
주로 색상, 형태, 질감 및 표면 결함 등 가시적 외관을 포착합니다.
SWIR 이미징
재료 조성, 수분, 코팅, 오염 및 스펙트럼 반응과 관련된 추가 정보를 제공합니다.
라인 스캔 카메라를 선택하는 이유
SWIR는 감지할 파장을 결정합니다. 라인 스캔은 연속적으로 이동하는 재료를 어떻게 검사할지를 결정합니다.
영역 스캔 카메라와 달리, 라인 스캔 카메라는 한 번에 한 줄을 캡처합니다. 대상이 이미징 영역을 통과하면서 이러한 개별 줄들이 결합되어 완전한 이미지를 형성합니다.
이 아키텍처는 컨베이어 검사, 연속 재료 분류, 롤 투 롤 생산, 웹 검사, 식품 가공, 재활용, 태양전지 제조 및 반도체 검사에 특히 적합합니다.
SWIR + 라인 스캔을 결합하는 이유
SWIR
가시광선 이미징을 넘어 재료, 수분, 코팅, 오염 및 기타 특징을 구별하기 위한 추가 스펙트럼 정보를 제공합니다.
라인 스캔
이동하는 재료와 고처리량 생산 라인을 위한 연속 이미지 획득을 제공합니다.
주요 SWIR 라인 스캔 응용 분야
SWIR 라인 스캔 이미징은 하나의 산업에 국한되지 않습니다. 그 주요 이점은 가시광선 이미징이 한계에 도달했을 때 추가 재료 정보를 제공하는 것입니다.
식품 & 농업 분류
SWIR는 연속적인 식품 및 농산물 검사 과정에서 수분, 조성, 오염 및 이물질과 관련된 추가 정보를 제공할 수 있습니다.
재활용 & 재료 분류
SWIR는 가시적 외관이 유사한 재료를 구별하는 데 도움이 되어 자동화된 고처리량 재료 분류를 지원합니다.
반도체 & 전자
SWIR는 웨이퍼, 다이, 본딩, 정렬 및 선택된 표면 하 관련 검사 응용 분야에서 가시광선 검사를 보완할 수 있습니다.
태양전지 & 광전지
SWIR 라인 스캔 이미징은 광전지 웨이퍼, 셀, 표면 및 생산 공정의 연속 검사를 지원할 수 있습니다.
수분 감지
다른 수분 상태를 가진 재료는 다른 SWIR 반응을 보일 수 있어 비접촉 검사 기회를 창출합니다.
필름 & 코팅 검사
SWIR는 필름, 코팅, 접착제, 오염 및 재료 층 차이에서 추가 대비를 제공할 수 있습니다.
Contrastech SWIR 라인 스캔 카메라 시리즈
Contrastech는 512픽셀에서 2K픽셀을 커버하는 세 가지 핵심 SWIR 라인 스캔 구성을 제공하며, 모두 950–1700 nm SWIR 영역을 위해 설계되었습니다.
카메라 선택은 검사 폭, 작업 거리, 대상 속도, 최소 결함 크기, 필요한 공간 해상도 및 시스템 인터페이스에 기반해야 합니다.
어떤 SWIR 라인 스캔 해상도가 필요한가?
| 모델 | 해상도 | 프레임 속도 | 스펙트럼 범위 | 일반적인 포지셔닝 |
|---|---|---|---|---|
| iBt-SW05K | 512 x 2 | 29.4kHz | 950–1700 nm | 표준 검사 / 분류 |
| iBt-SW1K | 1024 x 1 |
29.4kHz 40kHz |
950–1700 nm | 일반 산업용 검사 |
| iBt-SW2K |
2048 x1 2560 x 1 |
40kHz 196kHz |
950–1700 nm | 고해상도 검사 |
SWIR 카메라 + SWIR 렌즈: 완전한 광학 솔루션
SWIR 카메라만으로는 완전한 이미징 시스템을 만들 수 없습니다. 렌즈도 필요한 SWIR 파장 범위에 적합해야 합니다.
카메라
해상도, 감도, 라인 속도, 인터페이스 및 스펙트럼 반응.
SWIR 렌즈
스펙트럼 투과율, 초점 거리, 시야각, 작업 거리 및 광학 해상도.
SWIR 조명
파장, 광 출력, 조명 기하학 및 검사 영역 전체의 균일도.
운동 & 처리
대상 속도, 인코더 동기화, 이미지 획득 및 검사 알고리즘.
RGB + SWIR: 더 완전한 비전 시스템
SWIR가 반드시 RGB를 대체하는 것은 아닙니다. 많은 산업 응용 분야에서 가장 좋은 솔루션은 두 가지 이미징 기술을 결합하는 것입니다.
RGB
색상 + 형태 + 질감 + 표면 외관
기존 표면 및 기하학적 검사에 이상적입니다.
SWIR
재료 + 수분 + 코팅 + 스펙트럼 반응
가시 스펙트럼을 넘어 정보를 추가합니다.
SWIR 라인 스캔 솔루션 선택 방법
카메라를 선택하기 전에 먼저 검사 응용 분야를 정의하십시오.
무엇을 검사하고 있습니까?
RGB에서 누락된 정보는 무엇입니까?
대상은 얼마나 빠르게 이동합니까?
어떤 시야각이 필요합니까?
어떤 공간 해상도가 필요합니까?
카메라와 대상 사이의 거리는 얼마나 됩니까?
어떤 SWIR 광원이 사용 가능한가?
어떤 획득 인터페이스가 필요합니까?
SWIR로 가시광선 너머를 보십시오
가시광선 이미징이 충분할 때, RGB는 여전히 훌륭한 선택입니다. 그러나 재료가 유사해 보일 때, 수분을 감지해야 할 때, 코팅을 검사해야 할 때, 또는 생산 라인이 연속적인 재료 분석을 필요로 할 때, SWIR는 또 다른 수준의 정보를 제공할 수 있습니다.
950–1700 nm SWIR 라인 스캔 카메라, 전용 SWIR 광학 및 적절한 조명을 통해, Contrastech는 가시광선 이미징만으로는 더 이상 충분하지 않은 산업용 머신 비전 응용 분야를 위한 유연한 솔루션을 제공합니다.
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