可視光を超えて：コントラストテックOEM SWIRライトのアプリケーション駆動型ユースケース

カスタマイズ可能な SWIR照明が 業界横断的な高度な検査、材料識別、非破壊検査をどのように実現するかをご覧ください。

SWIR光とは何か、そしてマシンビジョンにおいてなぜ重要なのか

マシンビジョンおよび産業検査において、従来の可視光イメージングは、複雑な材料、多層構造、または隠れた欠陥に対処する際にしばしば限界に達します。 短波長赤外線（SWIR） 技術は、強力な代替手段を提供します。

SWIR光は通常、波長 900 nmから1700 nmをカバーします。可視光とは異なり、SWIRはシリコン、プラスチック、水、有機化合物などの材料と異なる方法で相互作用し、標準的なカメラでは見えない特徴を明らかにします。

SWIR照明の主な利点

材料の透明性とコントラストの向上

可視光下では不透明に見える多くの材料は、SWIR帯域では部分的に透明になり、表面下の欠陥や内部構造の検出が可能になります。

水分および組成物への感度

水は特定のSWIR波長（通常1400–1550 nm）で強く吸収するため、SWIRは水分検出、汚染検査、充填レベルの検証に最適です。

SWIRカメラによる高コントラストイメージング

InGaAsまたはSWIR感度センサーと組み合わせることで、SWIR照明は高速自動化に適した高コントラストで安定した画像を提供します。

コントラストテックOEM SWIRライトのカスタマイズ機能

すべてのコントラストテックライトシリーズは カスタムSWIR構成をサポートし、特定の検査要件や機械的制約に対応するように設計されています。

• カスタムSWIR波長 – 材料特性とコントラストに最適化
• 複数の照明タイプ: バーライト、リングライト、バックライト、ラインライト、同軸光、ドームライト
• カスタム寸法とフォームファクター – OEM統合に適しています
• 最適化された照明均一性とビーム角度

OEM SWIR照明のアプリケーションユースケース

半導体 & 電子機器検査

SWIR光はシリコンを透過するため、ウェハ検査、チップパッケージング分析、および表面下の微細なクラックや位置ずれの検出が可能になります。

価値： 欠陥検出の向上と生産歩留まりの向上。

プラスチック & パッケージング検査

SWIR照明はプラスチック包装内の材料の違いを明らかにし、異物、シール欠陥、および液体内容物の検出を可能にします。

価値： 食品、飲料、医薬品ライン向けの非破壊検査。

農業 & 食品品質分析

SWIRイメージングにより、可視光では検出できない水分分布、打撲傷、熟度などの内部品質を検査できます。

価値： 自動グレード付けと食品廃棄物の削減。

自動仕分け & リサイクル

カスタムSWIR照明は、可視色の違いを超えたプラスチック、複合材料、リサイクル可能材料の正確な識別をサポートします。

価値： 仕分け精度の向上とスマートなリサイクルプロセス。

SWIR照明ソリューションのカスタマイズ準備はできていますか？

特定のSWIR波長、カスタムライト幾何学形状、またはOEM対応の統合が必要であっても、コントラストテックはカスタマイズされたSWIR照明ソリューションを提供します。