950-1800nm 1.1" C-Mount SWlR Lenti telecentriche coassiali IMX990

ContrastechSKU: TLSW-0.5XD-H1.1
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Lunghezza d'onda: 950-1800nm 1.1" C-Mount
Distanza focale: 0.5x F6.3 Coassiale
Prezzo:
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Descrizione

Descrizione del prodotto

Obiettivo telecentrico SWIR ad alte prestazioni per ispezione industriale di precisione

Gli obiettivi telecentrici SWIR della serie TLSW sono progettati per sistemi di imaging a infrarossi a onde corte (SWIR) avanzati, supportando la gamma spettrale 950–1800nm. Ottimizzati per i sensori Sony IMX990 e InGaAs da 1,1", questi obiettivi offrono prestazioni eccezionali per il rilevamento di difetti e differenze di materiale invisibili nello spettro visibile.

Grazie al design ottico telecentrico, l'obiettivo garantisce un'immagine accurata e priva di distorsioni per applicazioni di misurazione e ispezione di precisione. Disponibile in ingrandimenti 1.0X e 2.0X, l'obiettivo è dotato di un design dell'iride regolabile, che consente agli utenti di ottimizzare la profondità di campo e il contrasto dell'immagine in base alle esigenze di ispezione.

La serie TLSW è disponibile in configurazioni sia coassiali che non coassiali, rendendola adattabile a un'ampia gamma di sistemi di visione industriale.

Caratteristiche principali

✔ Gamma di trasmissione SWIR 950–1800nm
Ottimizzato per l'imaging a infrarossi a onde corte oltre la luce visibile.

✔ Compatibile con sensori Sony IMX990 / InGaAs da 1,1"
Progettato per sistemi di visione industriale SWIR ad alta sensibilità.

✔ Design ottico telecentrico
Garantisce un'immagine di misurazione ad alta accuratezza e priva di distorsioni.

✔ Opzioni di ingrandimento 1.0X / 2.0X
Configurazioni flessibili per diverse esigenze di ispezione.

✔ Iride regolabile (modelli selezionati)
Consente l'ottimizzazione della profondità di campo e il controllo del contrasto dell'immagine.

✔ Versioni coassiali / non coassiali disponibili
Supporta l'ispezione di superfici riflettenti e non riflettenti.

Applicazioni ideali

  • Ispezione di wafer di semiconduttori
  • Analisi di materiali in silicio
  • Ispezione di componenti elettronici
  • Rilevamento di difetti oltre lo spettro visibile
  • Metrologia di precisione
  • Sistemi avanzati di imaging SWIR
  • Ricerca & Imaging scientifico
  • Ispezione per automazione industriale

Specifiche

Modello
Coassiale
Ing.
WD
(mm)

F/#

Lato
oggetto NA
DOF
(mm)
TLSW-0.5XD-H1.1
Sì
0.5
116.4
6.3
0.040
2.02
TLSW-0.7XD-H1.1
Sì
0.7
116.0
6.4
0.055
1.05
TLSW-1.0XD-H1.1
Sì
1.0
110.0
7.0
0.071
0.56
TLSW-1.0X-H1.1
No
1.0
110.0
7.0
0.071
0.56
TLSW-2.0XD-H1.1
Sì
2.0
110.2
11.5
0.087
0.23
TLSW-2.0X-H1.1
No
2.0
110.2
11.5
0.087
0.23
TLSW-4.0XD-H1.1
Sì
4.0
 110.3
20.0
0.100
0.10

Download Obiettivo SWIR

Datasheet Download

Q1: What is the TLSW SWIR telecentric lens used for?
A: It is designed for SWIR machine vision, semiconductor inspection, material analysis, and precision metrology, especially where defects are not visible in the visible spectrum.

Q2: What wavelength range does this lens support?
A: The lens operates in the 950–1800nm shortwave infrared (SWIR) range, enabling advanced infrared imaging applications.

Q3: Which image sensors is this lens compatible with?
A: It is optimized for Sony IMX990 and 1.1" InGaAs SWIR sensors, commonly used in industrial infrared imaging systems.

Q4: What is the advantage of a telecentric SWIR lens?
A: It provides distortion-free imaging, stable magnification, and high measurement accuracy, which is critical for precision inspection.

Q5: What magnification options are available?
A: The lens is available in 1.0X and 2.0X magnifications, suitable for different inspection and measurement requirements.

Q6: Can the lens adjust depth of field?
A: Yes, selected models feature an adjustable iris design, allowing users to optimize depth of field and image contrast.

Q7: What is the difference between coaxial and non-coaxial versions?
A: The coaxial version is ideal for reflective surfaces like metal or polished wafers, while the non-coaxial version is suitable for general SWIR inspection.

Q8: What industries commonly use this lens?
A: It is widely used in semiconductor manufacturing, electronics inspection, material science, and advanced research imaging systems.

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