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Descrizione
La fotocamera a scansione di area SWIR InGaAs 640x512 offre imaging a infrarossi a onde corte (SWIR) ad alta sensibilità per applicazioni industriali e scientifiche. Fornisce basso rumore, alto intervallo dinamico ed eccellente nitidezza dell'immagine. Ideale per l'ispezione dei semiconduttori, il rilevamento dell'umidità e l'analisi dei materiali, garantisce prestazioni affidabili in ambienti esigenti.
Specifiche principali
| Modello |
Sensore
|
Inquadratura Frequenza
|
Intervallo spettrale
|
|---|---|---|---|
| iBoostX-400USW32M-SA/J¹ |
IMX991
|
400fps
|
400-1800nm
|
|
iBoostX-428USW32M-SJ-Lite
|
IMX991
|
428.1fps
|
400-1700nm
|
|
iBoostX-724USW33M-HP
|
InGaAs
|
724fps
|
900-1700nm
|
|
iBoostX-125GSW33M-HP
|
InGaAs
|
125fps
|
900-1700nm
|
|
iBoostX-257GSW32M-SA/J¹
|
IMX991 |
257.8fps
|
400-1800nm
|
|
iBoost260GSW30M
|
InGaAs
|
258.8fps
|
400-1700nm
|
|
iBoostX-360GSW33M-HP
|
InGaAs
|
360fps
|
900-1700nm
|
|
iBoostX-367GSW33M-HP
|
InGaAs
|
360fps
|
900-1700nm
|
|
iBoostX-724TGSW33M-HP
|
InGaAs
|
724fps
|
900-1700nm
|
|
iBoostX-400CSW32M-SA
|
IMX991
|
400fps
|
400-1700nm
|
|
iBoostX-533CSW33M-CM/HP¹
|
InGaAs
|
533fps
|
900-1700nm
|
|
iBoostX-726CSW33M-CM/HP¹
|
InGaAs
|
726fps
|
900-1700nm
|
|
iBoostX-1000CSW33M-CM/HP¹
|
InGaAs
|
1000fps
|
900-1700nm
|
|
Modello
|
iBoostX-726CSW33M-CM/HP
|
|---|---|
| Risoluzione | 640x512 |
|
Tipo di sensore
|
InGaAs con TEC integrato |
|
Dimensione pixel[μm]
|
15 |
|
Dimensione sensore
|
3/4" |
|
Frequenza di scansione [Fps]
|
726 |
|
Intervallo spettrale
|
0.9µm - 1.7µm |
|
QE
|
75%@1350nm |
|
Tempo di esposizione
|
23.81μs-1s |
|
Interfaccia
|
Cameralink Full |
|
Baionetta obiettivo
|
C-Mount |
Download iBoostX-726CSW33M-CM/HP
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