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Beschreibung
Die 5.5K5μ M42-Bajonett-Linien-Scan-Objektive bieten eine unübertroffene Bildgebungsgenauigkeit mit einer 5.5K-Auflösung und einer Pixelgröße von 5μ, optimiert für Inspektionsanwendungen mit hoher Detailtreue. Mit einer niedrigen Verzerrungsrate von -0,61 % und einem breiten Ø30-Format gewährleisten diese Objektive eine präzise Bildgebung, ideal für Branchen wie die PCB- und FPD-Inspektion. Eine minimale Arbeitsentfernung von 574 mm und ein optimaler Bereich von 600–700 mm bieten Vielseitigkeit in verschiedenen Aufbauten. Das M42-Bajonett ermöglicht eine einfache Integration in industrielle Systeme, was diese Objektive zu einer hervorragenden Wahl für klare, verzerrungsfreie und hochauflösende Inspektionen macht.
Hauptmerkmale
■ FPD/PCB-Inspektion
■ Inspektion in der Textilindustrie
■ Inspektion von Eisenbahnschienen und weitere automatische optische Inspektion sowie Mikromakel-Erkennung
Spezifikation
Auflösung: 5.5K5μ
Format: Ø30
Verzerrung: -0,61 %
Minimale Arbeitsentfernung: 574 mm
Optimale Arbeitsentfernung: 600–700 mm
Bajonett: M42-Bajonett
| Modell |
EFL
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Vergrößerung
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Blende
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FBL
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|---|---|---|---|---|
|
VTL-5.5K-0.1X-A
|
50 mm
|
0,0946x
|
F2.8
|
12 mm
|
|
VTL-5.5K-0.1X-B
|
50 mm
|
0,0946x
|
F2.8
|
5,9 mm
|
|
VTL-5.5K-0.09X-A
|
50 mm |
0,094x
|
F4.0
|
12 mm
|
|
VTL-5.5K-0.09X-B
|
50 mm |
0,094x
|
F4.0
|
5,9 mm
|
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