Q1: What is the BTLM 2/3" Series used for?
A: The BTLM 2/3" bi-telecentric lens series is designed for high-precision machine vision, metrology, AOI, and semiconductor inspection applications requiring ultra-low distortion imaging.
Q2: What sensor size is this lens compatible with?
A: It is optimized for 2/3" industrial area scan cameras (Φ11mm image circle).
Q3: What is the magnification range of this series?
A: The BTLM 2/3" Series supports magnifications from 0.166X to 0.5X, suitable for both wide-field and precision inspection tasks.
Q4: What is the advantage of a bi-telecentric design?
A: A bi-telecentric lens maintains constant magnification and zero perspective error, ensuring highly accurate and repeatable measurements.
Q5: How accurate is this lens in terms of distortion?
A: The series achieves ultra-low distortion (<0.03%–<0.1%), making it ideal for precision metrology applications.
Q6: What is the difference between standard and “D” models?
A: “D” models include coaxial illumination compatibility, making them suitable for reflective or low-contrast surfaces.
Q7: What working distances are available?
A: Depending on the model, working distances range from 65 mm to 173 mm.
Q8: What industries commonly use this lens?
A: It is widely used in semiconductor inspection, electronics manufacturing, PCB inspection, AOI systems, and industrial automation.
Estimated Delivery Time
Ship To Detecting...
Delivery: -
Description
وصف المنتج
عدسات ثنائية التيليسنترية عالية الدقة بمقاس 2/3" للقياس الصناعي والرؤية الآلية
تم تصميم عدسات BTLM ثنائية التيليسنترية بمقاس 2/3" لتطبيقات الرؤية الآلية والقياسات عالية الدقة، حيث توفر أداء تصوير فائق الاستقرار مع خطأ منظوري صفر عبر مجال الرؤية بأكمله.
صُممت هذه السلسلة خصيصًا لكاميرات المسح الصناعي بمقاس 2/3" (دعم مستشعر بقطر 11مم)، وتوفر خيارات تكبير متعددة تتراوح من 0.166X إلى 0.5X، مما يجعلها مثالية لكل من عمليات التفتيش واسعة المجال ومهام القياس الدقيقة.
مع تشويه فائق الانخفاض (<0.1% / <0.03% حسب النموذج)، وتيليسنترية عالية (<0.1°)، وأداء MTF يتجاوز 160–260 lp/mm، تضمن سلسلة BTLM نتائج تصوير حادة وقابلة للتكرار بشكل كبير في البيئات الصناعية الصعبة.
تتوفر إصدارات الإضاءة المحورية الاختيارية (نماذج D) للأسطح العاكسة، بينما تتيح خيارات القزحية اليدوية التحكم المرن في عمق الحقل في ظروف التفتيش المعقدة.
الميزات الرئيسية
✔ مُحسّنة لمستشعرات 2/3" (دائرة صورة بقطر 11مم)
تطابق مثالي لكاميرات المسح الصناعي عالية الدقة.
✔ نطاق تكبير واسع (0.166X–0.5X)
تكوين مرن لمجالات رؤية تفتيش مختلفة.
✔ دقة بصرية فائقة (MTF >160–260 lp/mm)
تضمن التقاط التفاصيل الحادة للقياسات الدقيقة.
✔ تشويه فائق الانخفاض (<0.03%–<0.1%)
يوفر قياسات هندسية دقيقة للغاية.
✔ تصميم بخلا منظوري صفر
يضمن دقة قياس مستقرة وقابلة للتكرار.
✔ إصدارات الإضاءة المحورية الاختيارية (نماذج D)
مثالية للأسطح العاكسة أو منخفضة التباين.
✔ تصميم بمسافة عمل طويلة (65–173مم)
تكامل مرن في أنظمة التفتيش الصناعي.
✔ قزحية يدوية اختيارية (نماذج محددة)
يسمح بتحسين عمق الحقل وضبط الصورة.
التطبيقات المثالية
- القياسات الدقيقة
- تفتيش أشباه الموصلات
- تصنيع الإلكترونيات
- تفتيش لوحات الدوائر المطبوعة (PCB)
- التفتيش البصري الآلي (AOI)
- أنظمة القياس الأبعادي
- مراقبة الجودة الصناعية
- أنظمة الرؤية الآلية عالية الدقة
- تفتيش الأسطح العاكسة (النماذج المحورية)
المواصفات
عدسة تيليسنترية بمقاس 2/3" بتركيب C-Mount
| النموذج | قزحية متغيرة | محوري | التكبير | مسافة العمل (مم) | F/# | MTF30 (lp/mm) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| BTLM-0.5X-65-23 | لا | لا | 0.5X | 65±1 | 5.0 | >160 |
| BTLM-0.5X-65D-23 | لا | نعم | 0.5X | 65±1 | 5.0 | >160 |
| BTLM-0.4X-85-23 | لا | لا | 0.4X | 85±2 | 4.5 | >205 |
| BTLM-0.4X-85D-23 | لا | نعم | 0.4X | 85±2 | 4.5 | >205 |
| BTLM-0.166X-173-23 (IA) | نعم | لا | 0.166X | 173±3 | 3.3 | >260 |
ملاحظات: القيمة المذكورة أعلاه لعمق الحقل (DOF) هي قيمة نظرية عند فتحة مثالية (مثال: ±763@F11). للحصول على عمق الحقل الفعلي أو العمق الذي تحتاجه، يرجى التحقق مع مهندس المبيعات لدينا قبل تأكيد الطلب.
تنزيل عدسات التيليسنترية
Estimate shipping
Payment & Security
Your payment information is processed securely. We do not store credit card details nor have access to your credit card information.