ทำไมเลนส์เทเลเซ็นทริกจึงจำเป็นสำหรับระบบเซมิคอนดักเตอร์และระบบวิทัศน์ AI?

JiangJenny
Why Telecentric Lenses Are Essential for Semiconductor and AI Vision Systems?

เมื่อข้อผิดพลาดไม่ใช่ทางเลือก

เลนส์เทเลเซ็นทริกเป็นรากฐานทางแสงเบื้องหลังการตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์สมัยใหม่ การวัดความแม่นยำ และระบบวิทัศน์ AI

ในสภาพแวดล้อมการผลิตขั้นสูง ความแม่นยำของภาพกำหนดความน่าเชื่อถือของผลการตรวจสอบ หากระบบแสงทำให้เกิดความผิดเพี้ยน การเปลี่ยนแปลงของกำลังขยาย หรือสิ่งรบกวนจากการสะท้อน แอลกอริทึมขั้นสูงที่สุดก็ไม่สามารถชดเชยข้อผิดพลาดที่ต้นทางได้

นี่คือจุดที่ เลนส์เทเลเซ็นทริก กลายเป็นสิ่งสำคัญ

ระบบแสงเทเลเซ็นทริกขจัดข้อผิดพลาดเชิงทัศนียภาพ เสถียรภาพกำลังขยาย และให้ภาพที่ปราศจากความผิดเพี้ยน—ซึ่งให้รากฐานทางภาพที่เชื่อถือได้สำหรับ การตรวจสอบ การวัดความแม่นยำ และข้อมูลฝึกสอน AI.

ทางออกที่แท้จริงไม่ใช่แค่แอลกอริทึมที่ดีขึ้นเท่านั้น แต่คือความแม่นยำของภาพที่ต้นทางทางแสง

ทำไมเลนส์ อุตสาหกรรมทั่วไป จึงกำลังกลายเป็นคอขวด

Why Conventional Industrial Lenses Are Becoming a Bottleneck

การตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์

ความเบี่ยงเบนทางเรขาคณิตระดับไมครอนอาจนำไปสู่การจำแนกข้อบกพร่องที่ไม่ถูกต้อง แม้ ความผิดเพี้ยนทางแสงเพียงเล็กน้อยสามารถเพิ่มอัตราการตัดสินข้อบกพร่องผิดพลาดได้อย่างมีนัยสำคัญ.

การวัดความแม่นยำ

เมื่อตำแหน่งของวัตถุเคลื่อนที่เล็กน้อย เลนส์ทั่วไปจะก่อให้เกิดการเปลี่ยนแปลงเชิงทัศนียภาพ ทำให้ ผลการวัดมีความผันผวน.

การตรวจสอบพื้นผิวสะท้อนแสง

วัสดุที่มีลักษณะเหมือนกระจกมักทำให้เกิด จุดสว่างที่สว่างจ้าเกินไป, สร้างจุดบอดในการตรวจสอบคุณภาพ

การฝึกสอนวิทัศน์ AI

หากข้อมูลฝึกสอนมาจากภาพที่ผิดเพี้ยน ตัวโมเดล AI เองก็จะถูกกระทบ.

เลนส์เทเลเซ็นทริกคืออะไร และทำไมจึงสำคัญ

เลนส์เทเลเซ็นทริกถูกออกแบบให้รังสีหลักเดินทาง ขนานกับแกนแสง. โครงสร้างทางแสงนี้ขจัดความผิดเพี้ยนเชิงทัศนียภาพและรักษาความคงที่ของกำลังขยายทั่วทั้งสนามภาพ

สิ่งนี้ทำให้สามารถ:

  • ข้อผิดพลาดเชิงทัศนียภาพเป็นศูนย์
  • กำลังขยายคงที่
  • ความผิดเพี้ยนต่ำมาก
  • การวัดที่ซ้ำได้สูง

เลนส์เทเลเซ็นทริกถูกใช้อย่างแพร่หลายใน:

  • การตรวจสอบเวเฟอร์เซมิคอนดักเตอร์
  • การตรวจสอบแผง PCB และ LCD
  • ระบบวัดความแม่นยำ
  • แพลตฟอร์มฝึกสอนวิทัศน์ AI
  • การตรวจสอบแบตเตอรี่ลิเธียม
  • การคัดแยกวัสดุขั้นสูง

ทำไมต้องเลือกเลนส์เทเลเซ็นทริกจาก Contrastech

การออกแบบทางแสงที่มีความผิดเพี้ยนต่ำมาก

ระดับความผิดเพี้ยนต่ำถึง ≤0.01%, ตอบสนองความต้องการการตรวจสอบระดับเซมิคอนดักเตอร์

รองรับเซ็นเซอร์ความละเอียดสูงมาก

  • เข้ากันได้กับ เซ็นเซอร์แบบพื้นที่สูงสุด 151MP
  • รองรับ กล้องสแกนแบบเส้น 24K

สนามภาพขนาดใหญ่พิเศษ

สนามภาพสูงสุดถึง 390 mm, เหมาะสำหรับการตรวจสอบ PCB ขนาดใหญ่ การตรวจสอบ LCD และการวิเคราะห์วัสดุพื้นที่ขนาดใหญ่

ความเข้ากันได้ของเซ็นเซอร์ที่หลากหลาย

รองรับขนาดเซ็นเซอร์ตั้งแต่ 1/2.5", 1", 2/3", APS-C ถึงฟูลเฟรม โดยมีวงกลมภาพสูงสุดถึง 88 mm.

ช่วงกำลังขยายที่กว้าง

ตัวเลือกกำลังขยายตั้งแต่ 0.024X – 8X, รองรับทั้งการตรวจสอบแบบมาโครและการวัดระดับไมครอน

ทางออกด้านสเปกตรัมขั้นสูง

เทเลเซ็นทริก UV

  • การตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์
  • การตรวจจับรอยร้าวขนาดเล็ก
  • การวัดความแม่นยำ

เทเลเซ็นทริก SWIR

  • การตรวจสอบการทะลุผ่านวัสดุ
  • การวิเคราะห์เวเฟอร์ซิลิคอน
  • การตรวจสอบการห่อหุ้มอิเล็กทรอนิกส์

ไบ-เทเลเซ็นทริก

  • การวัดขนาดระดับซับพิกเซล
  • ระบบวัดความแม่นยำ
  • วิทัศน์เครื่องจักรที่เสถียรสูง

คำติชมจากอุตสาหกรรม

“โซลูชันโพลาไรเซชันของพวกเขาแก้ปัญหาหลักในการตรวจสอบออปติก AR ของเรา”
“ความสม่ำเสมอของภาพเป็นเกณฑ์สำคัญที่สุดของเราในการเลือกพันธมิตรด้านวิทัศน์ AI”

วิธีเลือกเลนส์เทเลเซ็นทริกให้เหมาะสม

  • ขนาดเซ็นเซอร์
  • ความแม่นยำในการวัดที่ต้องการ
  • สนามภาพ
  • ข้อกำหนดด้านสเปกตรัม (UV / Visible / SWIR)
  • จำเป็นต้องใช้ระบบแสงไบ-เทเลเซ็นทริกหรือไม่

หากไม่มีการจับคู่ที่เหมาะสม แม้แต่ระบบวิทัศน์ระดับสูงก็อาจไม่สามารถบรรลุประสิทธิภาพที่คาดหวังได้

 

ค้นหาโซลูชันเทเลเซ็นทริกที่เหมาะสม

Contrastech สามารถช่วยออกแบบโซลูชันทางแสงเทเลเซ็นทริกที่เหมาะสมที่สุดสำหรับการตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์ ระบบวิทัศน์ AI และการวัดความแม่นยำ

ติดต่อเราสำหรับแอปพลิเคชันของคุณ