กล้องสแกนแบบเส้น SWIR: ทำไมต้องใช้ SWIR ในการตรวจสอบทางอุตสาหกรรม?
เมื่อแสงที่ตามองเห็นไม่เพียงพอ การถ่ายภาพแบบสแกนเส้น SWIR จะเปิดอีกวิธีหนึ่งในการมองเห็นและตรวจสอบวัสดุที่เคลื่อนที่อย่างต่อเนื่องผ่านสายการผลิตทางอุตสาหกรรม
ในวิสัยทัศน์เครื่องจักรสมัยใหม่ ความท้าทายในการตรวจสอบหลายประการไม่ได้เป็นเรื่องของการตรวจจับรูปร่าง สี หรือข้อบกพร่องบนพื้นผิวอย่างง่ายอีกต่อไป ความท้าทายที่แท้จริงมักจะเป็น:
นี่คือจุดที่การถ่ายภาพคลื่นสั้นอินฟราเรด (SWIR) มีคุณค่า เมื่อรวมกับเทคโนโลยีการสแกนแบบเส้น SWIR จะให้โซลูชันที่ทรงพลังสำหรับวัสดุที่เคลื่อนที่อย่างต่อเนื่อง การผลิตความเร็วสูง การคัดแยก การตรวจสอบเว็บ และการวิเคราะห์วัสดุ
ทำไมต้องเลือก SWIR แทนแสงที่ตามองเห็น?
กล้อง RGB แบบดั้งเดิมมีความยอดเยี่ยมในการตรวจจับสี รูปร่าง พื้นผิว การปรากฏบนพื้นผิว และข้อบกพร่องทางเรขาคณิต อย่างไรก็ตาม วัสดุบางชนิดอาจดูเหมือนเหมือนกันเกือบจะสมบูรณ์ในแสงที่ตามองเห็น แต่แสดงการตอบสนองที่แตกต่างกันอย่างมากในช่วง SWIR
การถ่ายภาพแสงที่ตามองเห็น / RGB
จับภาพการปรากฏที่ตามองเห็นเป็นหลัก เช่น สี รูปร่าง พื้นผิว และข้อบกพร่องบนพื้นผิว
การถ่ายภาพ SWIR
ให้ข้อมูลเพิ่มเติมที่เกี่ยวข้องกับองค์ประกอบของวัสดุ ความชื้น สารเคลือบ สิ่งปนเปื้อน และการตอบสนองทางสเปกตรัม
ทำไมต้องเลือกกล้องสแกนแบบเส้น?
SWIR กำหนด ความยาวคลื่นที่จะตรวจจับการสแกนแบบเส้นกำหนด วิธีตรวจสอบวัสดุที่เคลื่อนที่อย่างต่อเนื่อง.
ไม่เหมือนกล้องสแกนแบบพื้นที่ กล้องสแกนแบบเส้นจะจับภาพทีละเส้น เมื่อเป้าหมายเคลื่อนที่ผ่านพื้นที่การถ่ายภาพ เส้นเหล่านี้จะถูกประกอบเข้าด้วยกันเป็นภาพที่สมบูรณ์
สถาปัตยกรรมนี้เหมาะอย่างยิ่งสำหรับการตรวจสอบบนสายพานลำเลียง การคัดแยกวัสดุอย่างต่อเนื่อง การผลิตแบบม้วนต่อม้วน การตรวจสอบเว็บ การแปรรูปอาหาร การรีไซเคิล การผลิตเซลล์แสงอาทิตย์ และการตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์
ทำไมต้องรวม SWIR + การสแกนแบบเส้น?
SWIR
ให้ข้อมูลสเปกตรัมเพิ่มเติมสำหรับการแยกแยะวัสดุ ความชื้น สารเคลือบ สิ่งปนเปื้อน และคุณลักษณะอื่น ๆ นอกเหนือจากการถ่ายภาพที่ตามองเห็น
การสแกนแบบเส้น
ให้การจับภาพอย่างต่อเนื่องสำหรับวัสดุที่เคลื่อนที่และสายการผลิตที่มีปริมาณสูง
การประยุกต์ใช้หลักของกล้องสแกนแบบเส้น SWIR
การถ่ายภาพแบบสแกนเส้น SWIR ไม่จำกัดอยู่เพียงในอุตสาหกรรมเดียว ข้อได้เปรียบหลักคือการให้ข้อมูลวัสดุเพิ่มเติมเมื่อการถ่ายภาพที่ตามองเห็นถึงขีดจำกัด
อาหาร & การคัดแยกทางการเกษตร
SWIR สามารถให้ข้อมูลเพิ่มเติมที่เกี่ยวข้องกับความชื้น องค์ประกอบ สิ่งปนเปื้อน และวัสดุแปลกปลอมระหว่างการตรวจสอบผลิตภัณฑ์อาหารและทางการเกษตรอย่างต่อเนื่อง
การรีไซเคิล & การคัดแยกวัสดุ
SWIR สามารถช่วยแยกแยะวัสดุที่มีลักษณะที่ตามองเห็นคล้ายกัน สนับสนุนการจำแนกวัสดุอัตโนมัติที่มีปริมาณสูง
เซมิคอนดักเตอร์ & อิเล็กทรอนิกส์
SWIR สามารถเสริมการตรวจสอบที่ตามองเห็นสำหรับเวเฟอร์ ดาย การบัดกรี การจัดแนว และการตรวจสอบที่เกี่ยวข้องกับใต้พื้นผิวบางประเภท
เซลล์แสงอาทิตย์ & โฟโตโวลตาอิก
การถ่ายภาพแบบสแกนเส้น SWIR สามารถสนับสนุนการตรวจสอบเวเฟอร์และเซลล์โฟโตโวลตาอิก พื้นผิว และกระบวนการผลิตอย่างต่อเนื่อง
การตรวจจับความชื้น
วัสดุที่มีสภาวะความชื้นต่างกันสามารถแสดงการตอบสนอง SWIR ที่แตกต่างกัน สร้างโอกาสสำหรับการตรวจสอบแบบไม่สัมผัส
ฟิล์ม & การตรวจสอบสารเคลือบ
SWIR สามารถให้คอนทราสต์เพิ่มเติมสำหรับฟิล์ม สารเคลือบ สารยึดติด สิ่งปนเปื้อน และความแตกต่างของชั้นวัสดุ
ไลน์อัพกล้องสแกนแบบเส้น SWIR ของ Contrastech
Contrastech ให้การกำหนดค่ากล้องสแกนแบบเส้น SWIR หลักสามแบบ ครอบคลุมตั้งแต่ 512 พิกเซล ถึง 2K พิกเซล ทั้งหมดออกแบบมาสำหรับช่วง SWIR 950–1700 นาโนเมตร
การกำหนดค่าที่ใช้งานได้จริงสำหรับการตรวจสอบ การคัดแยก และแอปพลิเคชันที่เน้นความไว
โซลูชันที่สมดุลสำหรับการตรวจสอบ SWIR ทางอุตสาหกรรมทั่วไปและการวิเคราะห์วัสดุ
ออกแบบมาสำหรับการสุ่มตัวอย่างเชิงพื้นที่ที่สูงขึ้นและการตรวจสอบสายการผลิตที่ละเอียดมากขึ้น
การเลือกกล้องควรพิจารณาจากความกว้างของการตรวจสอบ ระยะทำงาน ความเร็วของวัตถุ ขนาดข้อบกพร่องขั้นต่ำ ความละเอียดเชิงพื้นที่ที่ต้องการ และอินเทอร์เฟซของระบบ
คุณต้องการความละเอียดของกล้องสแกนแบบเส้น SWIR แบบใด?
| รุ่น | ความละเอียด | อัตราเฟรม | ช่วงสเปกตรัม | ตำแหน่งการใช้งานทั่วไป |
|---|---|---|---|---|
| iBt-SW05K | 512 x 2 | 29.4kHz | 950–1700 นาโนเมตร | การตรวจสอบ / การคัดแยกมาตรฐาน |
| iBt-SW1K | 1024 x 1 |
29.4kHz 40kHz |
950–1700 นาโนเมตร | การตรวจสอบทางอุตสาหกรรมทั่วไป |
| iBt-SW2K |
2048 x1 2560 x 1 |
40kHz 196kHz |
950–1700 นาโนเมตร | การตรวจสอบความละเอียดสูง |
กล้อง SWIR + เลนส์ SWIR: โซลูชันทางออปติคอลที่ครบวงจร
กล้อง SWIR เพียงอย่างเดียวไม่สามารถสร้างระบบการถ่ายภาพที่สมบูรณ์ได้ เลนส์ต้องเหมาะสมกับช่วงความยาวคลื่น SWIR ที่ต้องการด้วย
กล้อง
ความละเอียด ความไว อัตราการสแกนเส้น อินเทอร์เฟซ และการตอบสนองทางสเปกตรัม
เลนส์ SWIR
การส่งผ่านสเปกตรัม ระยะโฟกัส มุมมอง ระยะทำงาน และความละเอียดทางออปติคอล
การส่องสว่าง SWIR
ความยาวคลื่น กำลังทางออปติคอล เรขาคณิตการส่องสว่าง และความสม่ำเสมอทั่วทั้งพื้นที่ตรวจสอบ
การเคลื่อนที่ & การประมวลผล
ความเร็วของวัตถุ การซิงโครไนซ์กับเอนโคเดอร์ การจับภาพ และอัลกอริทึมการตรวจสอบ
RGB + SWIR: ระบบวิสัยทัศน์ที่ครบถ้วนสมบูรณ์ยิ่งขึ้น
SWIR ไม่จำเป็นต้องแทนที่ RGB ในแอปพลิเคชันทางอุตสาหกรรมหลายแห่ง โซลูชันที่ดีที่สุดคือการรวมเทคโนโลยีการถ่ายภาพทั้งสองแบบเข้าด้วยกัน
RGB
สี + รูปร่าง + พื้นผิว + การปรากฏบนพื้นผิว
เหมาะสำหรับการตรวจสอบพื้นผิวและเรขาคณิตแบบดั้งเดิม
SWIR
วัสดุ + ความชื้น + สารเคลือบ + การตอบสนองทางสเปกตรัม
เพิ่มข้อมูลนอกเหนือจากสเปกตรัมที่ตามองเห็น
วิธีเลือกโซลูชันกล้องสแกนแบบเส้น SWIR
ก่อนเลือกกล้อง ให้กำหนดแอปพลิเคชันการตรวจสอบก่อน
คุณกำลังตรวจสอบอะไร?
ข้อมูลใดที่ขาดหายไปจาก RGB?
เป้าหมายเคลื่อนที่เร็วแค่ไหน?
ต้องการมุมมองเท่าใด?
ต้องการความละเอียดเชิงพื้นที่เท่าใด?
กล้องอยู่ห่างจากเป้าหมายเท่าใด?
แหล่งกำเนิดแสง SWIR แบบใดที่มีอยู่?
ต้องการอินเทอร์เฟซการจับภาพแบบใด?
มองเห็นสิ่งที่อยู่เหนือแสงที่ตามองเห็นด้วย SWIR
เมื่อการถ่ายภาพที่ตามองเห็นเพียงพอ RGB ยังคงเป็นตัวเลือกที่ยอดเยี่ยม แต่เมื่อวัสดุดูเหมือนกัน ความชื้นต้องถูกตรวจจับ สารเคลือบต้องถูกตรวจสอบ หรือสายการผลิตต้องการการวิเคราะห์วัสดุอย่างต่อเนื่อง SWIR สามารถให้ข้อมูลในระดับที่ลึกยิ่งขึ้น
ด้วยกล้องสแกนแบบเส้น SWIR ช่วง 950–1700 นาโนเมตร ออปติคส์ SWIR เฉพาะทาง และการส่องสว่างที่เหมาะสม Contrastech ให้โซลูชันที่ยืดหยุ่นสำหรับแอปพลิเคชันวิสัยทัศน์เครื่องจักรทางอุตสาหกรรมที่การถ่ายภาพที่ตามองเห็นไม่เพียงพออีกต่อไป
สำรวจกล้อง SWIR ของ Contrastechสำรวจแอปพลิเคชัน SWIR เพิ่มเติม
อาหาร & การคัดแยกทางการเกษตร
เรียนรู้ว่าการถ่ายภาพแบบสแกนเส้น SWIR สามารถช่วยระบุความแตกต่างของวัสดุ ความชื้น และสิ่งปนเปื้อนได้อย่างไร
อ่านเพิ่มเติม →การตรวจสอบเซมิคอนดักเตอร์
ค้นพบว่าการตรวจสอบ SWIR สามารถเสริมการตรวจสอบที่ตามองเห็นในการผลิตเซมิคอนดักเตอร์ได้อย่างไร
อ่านเพิ่มเติม →การตรวจสอบเซลล์แสงอาทิตย์
เรียนรู้เกี่ยวกับการถ่ายภาพแบบสแกนเส้น SWIR สำหรับการผลิตและการตรวจสอบโฟโตโวลตาอิก
อ่านเพิ่มเติม →การตรวจจับความชื้นด้วย SWIR
ทำความเข้าใจว่าทำไม SWIR จึงสามารถเปิดเผยความแตกต่างที่เกี่ยวข้องกับความชื้นที่กล้อง RGB มองไม่เห็น
อ่านเพิ่มเติม →วิธีเลือกเลนส์ SWIR
เรียนรู้ว่าความยาวคลื่น ระยะโฟกัส ระยะทำงาน และมุมมองส่งผลต่อการถ่ายภาพ SWIR อย่างไร
อ่านเพิ่มเติม →