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Descrizione
Le lenti a scansione lineare V-Mount 16K3.5μ sono ottimizzate per applicazioni ad ultra-alta risoluzione, offrendo un'immagine precisa a 16K con una dimensione del pixel di 3.5μ. Progettate per settori che richiedono un dettaglio meticoloso, come l'ispezione di semiconduttori, FPD e PCB, queste lenti garantiscono un'eccellente nitidezza dell'immagine con una distorsione minima. Il design V-Mount assicura un'installazione sicura e facile, rendendole compatibili con le fotocamere a scansione lineare ad alte prestazioni. Ideali per ambienti in cui velocità e precisione sono fondamentali, le lenti a scansione lineare V-Mount 16K3.5μ offrono prestazioni ottiche eccezionali, consentendo un rilevamento dei difetti efficiente e affidabile per sistemi di ispezione avanzati.
Caratteristiche principali
■ Ispezione FPD/ PCB
■ Ispezione dell'industria tessile
■ Ispezione dei binari ferroviari, e altre ispezioni ottiche automatiche e rilevamento di microdifetti
Specifiche
| Modello |
EFL
|
Ing.
|
Apertura
|
FBL
|
|---|---|---|---|---|
|
VTL-9040-0.1X
|
90mm
|
0.1x
|
F4.0
|
82.7mm
|
|
VTL-9540-0.05X
|
95mm |
0.05x
|
F4.0
|
81.2mm
|
|
VTL-16K-0.26X
|
114mm
|
0.26x
|
F4.2
|
128.3mm
|
|
VTL-16K-0.33X
|
116mm
|
0.33x
|
F4.2
|
137mm
|
|
VTL-16K-0.42X
|
116mm
|
0.42x
|
F3.8
|
144.5mm
|
|
VTL-16K-0.5X
|
116mm
|
0.5x
|
F3.8
|
153.3mm
|
|
VTL-16K-0.67X
|
116mm
|
0.67x
|
F3.8
|
170.2mm
|
|
VTL-16K-0.7X
|
116mm
|
0.7x
|
F3.8
|
174.4mm
|
|
VTL-16K-0.75X
|
100mm
|
0.75x
|
F3.8
|
180.5mm
|
|
VTL-16K-1.0X
|
116mm
|
1.0x
|
F3.5
|
209.47mm
|
Stima dei costi di spedizione
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